LS 13 320 XR 激光衍射粒度分析仪

LS 13 320 XR 激光衍射粒度分析仪

主要特点

• 优于ISO 13 320技术标准
• 符合FDA的21 CFR Part 11标准
• 检测器数量更多，高达132枚独立物理位置检测器，对应高达136个真实数据通道，能够清晰区分不同粒度等级间散射光强谱图差异，确保不缺漏丝毫信息，快速、准确的真实粒度测量。
• 设计的“X”型对数排布检测器阵列，可以准确记录散射光强信号，不管单峰、多峰，准确分析粒度分布。
• 全自动运算分析功能，多峰自动检测，无需事先猜测峰型，无需选择分析模型，提供客观的报告。
• 升级版PIDS技术提供创新的高分辨率纳米粒度分析功能，真正实现10nm下限峰值测量。
• PIDS技术不仅可以直接检测小至10 nm的颗粒，而且还可以直接检测纳米级的多峰分布。
• 纳米分析功能与微米分析功能合二为一，功能强大，真正10nm的测量可使其作为独立的高分辨率纳米粒度分析仪使用。
• 新一代固体激光光源，无需预热，7万小时以上开机使用寿命 。
• 并行式信号采集与传输，确保信号保持高信噪比、无时差、高通量。

 多波长和偏振光分析技术令粒度分布在宽动态范围内的准确性分析获得高度保障。
• 多种自动化样品分散系统，“即插即用”，数秒即可完成切换，高效便利。