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热膨胀仪DIL 402 Expedis Classic-单样品集成了热膨胀测量领域的技术,为宽广应用领域内的专业级的应用而设计。DIL Expedis 系列的所有型号均基于革命性的 NanoEye 测量系统,在测量范围与精度两方面达到了新的高度。
每一纳米均纳入计算
量程与分辨率的新的*
对于传统的热膨胀仪,测试量程与分辨率这两个参数很难两全:高分辨率只能在很小的量程中实现;如果要得到较大量程,只能牺牲一定的分辨率。
新型自反馈光电位移测量系统 NanoEye 克服了这一技术上的矛盾,能够同时提供高的分辨率、的线性度与无以匹敌的宽广量程。
工作原理 在测试过程中,当样品发生膨胀时,图中所有的绿色部分将在线性导轨(图中蓝色部分)的引导下向后移动,并由光学解码器测出相应的长度变化。 |