更灵活的刷式扫查器详细动态

更有信心的腐蚀检测、更好的C扫描成像

ZETEC公司新研发的手动扫查器，可加载多种超声相控阵探头，结合TOPAZ系列便携式超声相控阵系统可进行C扫描成像

• 主要应用于金属平板或管道的腐蚀检测
• 母材的缺陷检测
• 金属工件厚度减薄测量
• 复合材料分层缺陷

主要技术性能如下：

• 手动扫查器：小巧灵活，使用方便，单手即可完成检测操作
• 扫查效率高，较短时间内即可完成缺陷检测
• 两平行编码轮：实时记录两个轮子的位差，实现各个方向的准定位
• 两种类型的编码轮可自行更换：铁磁性轮可进行碳钢等铁磁性材料的检测，非铁磁性轮可用于复合材料的检测
• 两个控制按钮

       开始/停止数据采集：用于控制数据采集状态

       开启/关闭耦合泵：用于控制探头耦合

• 实时成像效果好，从图像可直观看到缺陷分布情况
• 兼容多种相控阵探头，可对不同厚度，不同类型的材料进行检测
• 位置跟踪：误差小于1mm
• 适用于平板或管道扫查，最小可检测管径为6英寸

Paintbrush刷式扫查器详细动态在检测时可以得到更准的位置编码信息，更好的成像效果，有效解决了轮式探头扫查器容易出现的扫查步进位置的误差和扫查重复覆盖问题。并且在检测过程中可以实时查看探头位置和数据，确保检测过程能够很好地覆盖所有目标区域，从而正确评估整个检测过程，得出准确的结论。