德国LANGER单通道探头

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LANGER LWL Ø 2.2 mm 6 m,Lichtwellenleiter einfach 6 m 放大器,扫描探头,扫描仪,探测头

LANGER A200-1 SET 放大器,扫描探头,扫描仪,探测头

LANGER A300-1 SET 放大器,扫描探头,扫描仪,探测头

LANGER LF-R 50,H-Feldsonde 100 KHz bis 50 MHz 28.20.02

LANGER LF-R 3,H-Feldsonde 100 KHz bis 50 MHz 28.20.01

LANGER LF1 set,Nahfeldsonden 100 kHz bis 50 MHz 28.10.00

LANGER RF4-E set,Nahfeldsonden E-Feld 30 MHz bis 3 GHz 26.00.00

LANGER RF3 mini set,Nahfeldsonden 30 MHz bis 3 GHz 25.00.00

LANGER RF2 set,Nahfeldsonden 30 MHz bis 3 GHz 24.00.00

LANGER RF1 set,Nahfeldsonden 30 MHz bis 3 GHz 23.00.00

LANGER PA 303 N set,Vorverstärker 100 kHz bis 3 GHz 29.30.00

LANGER N-BNC,Adapter 放大器,扫描探头,扫描仪,探测头

LANGER Case 4,Systemkoffer Nahfeldsonden 放大器,扫描探头,扫描仪,探测头

LANGER SMB-BNC 1 m,Messkabel SMB-BNC 00.00.11

LANGER LF-K 7,H-Feldsonde 100 KHz bis 50 MHz 28.20.03

LANGER PA303N set 放大器,扫描探头,扫描仪,探测头

LANGER LF opt set 放大器,扫描探头,扫描仪,探测头

LANGER LF1 set 放大器,扫描探头,扫描仪,探测头

LANGER RF4 set 放大器,扫描探头,扫描仪,探测头

LANGER RF 3 mini 放大器,扫描探头,扫描仪,探测头

LANGER RF2 set 放大器,扫描探头,扫描仪,探测头

LANGER RF1 set 放大器,扫描探头,扫描仪,探测头

LANGER A300-2 SET 放大器,扫描探头,扫描仪,探测头

Langer主要型号：BD06B、BD01B、BD01E、BD11、MFA 01、XF 1、SX、MFA01、MFA02、SX1、XF1、XF、RF1、RF2、RF3、RF4-E、RF-E、LF1、LF、PA203、PA303、RFS、VM251

光纤探头的作用是传输受试设备在电快速瞬变/猝发序列脉冲干扰的影响下发出的模拟信号。

A100-1 set, 单通道光纤探头（25KHz）

A100-1 set

单通道光纤探头（25KHz）

A100-1把在EFT/ESD/高频干扰影响下的模拟信号显示到示波器上。在检测电力或电子设备对高频电磁场（IEC 61000-4-3到IEC 61000 -4-6）的抗干扰性时，该系统特别适合于检测模拟信号。 对电磁场进行给定的调制时会对模拟信号产生影响，A100，A200和A300系列模拟信号测量系统能够快速识别到这些影响。 该探头包含一个传感器，这个传感器测量受测物中的模拟信号，并把测得的模拟信号转化为光信号。光信号通过光纤传到示波器的光学输入端；光学输入端再把光信号转化为电子模拟信号。示波器可以显示这些信号，或用它们来控制其他设备。

A100-2 set, 双通道光纤探头（25KHz）

A100-2 set

双通道光纤探头（25KHz）

A100-2把在EFT/ESD/高频干扰影响下的模拟信号显示到示波器上。在检测电力或电子设备对高频电磁场（IEC 61000-4-3到IEC 61000 -4-6）的抗干扰性时，该系统特别适合于检测模拟信号。 对电磁场进行给定的调制时会对模拟信号产生影响，A100，A200和A300系列模拟信号测量系统能够快速识别到这些影响。 该探头包含一个传感器，这个传感器测量受测物中的模拟信号，并把测得的模拟信号转化为光信号。光信号通过光纤传到示波器的光学输入端；光学输入端再把光信号转化为电子模拟信号。示波器可以显示这些信号，或用它们来控制其他设备。

A200-1 set, 单通道光纤探头（500KHz）

A200-1 set

单通道光纤探头（500KHz）

在EFT/ESD/高频干扰影响下的模拟信号，可以借助A200-1零电势地显示到示波器上，A200-1探头包含一个传感器，能够快速识别到受干扰的信号。该传感器测量受测物中的模拟信号，并把测得的模拟信号转化为光信号。光信号通过光纤传到示波器的光学输入端；光学输入端再把光信号转化为电子模拟信号。示波器可以显示这些信号，或用它们来控制其他设备。该系统适合在吸收室内监测试样，或用于优化软硬件的 电磁兼容性。

A200-2 set

A200-2 set

A300-1 set

Langer EMV - 模拟信号

A300-1 set

A300-2 set

A300-2 set

德国LANGER单通道探头

在认证机构中，使用经过各类校准的天线进行辐射泄露测试，都是进行的远场测量。标准的远场辐射泄漏测试，可以准确定量的告诉我们被测件是否符合相应的 EMI 标准。但是远场测试无法告诉工程师，严重的辐射问题到底是来自于壳体的缝隙，还是来自连接的电缆，或USB ，LAN 之类的通信接口。在这种情况下，我们可以通过近场测试的方法来定位辐射的真正来源。在认证机构中，使用经过各类校准的天线进行辐射泄露测试，都是进行的远场测量。标准的远场辐射泄漏测试，可以准确定量的告诉我们被测件是否符合相应的 EMI 标准。但是远场测试无法告诉工程师，严重的辐射问题到底是来自于壳体的缝隙，还是来自连接的电缆，或USB ，LAN 之类的通信接口。在这种情况下，我们可以通过近场测试的方法来定位辐射的真正来源。在认证机构中，使用经过各类校准的天线进行辐射泄露测试，都是进行的远场测量。标准的远场辐射泄漏测试，可以准确定量的告诉我们被测件是否符合相应的 EMI 标准。但是远场测试无法告诉工程师，严重的辐射问题到底是来自于壳体的缝隙，还是来自连接的电缆，或USB ，LAN 之类的通信接口。在这种情况下，我们可以通过近场测试的方法来定位辐射的真正来源。在认证机构中，使用经过各类校准的天线进行辐射泄露测试，都是进行的远场测量。标准的远场辐射泄漏测试，可以准确定量的告诉我们被测件是否符合相应的 EMI 标准。但是远场测试无法告诉工程师，严重的辐射问题到底是来自于壳体的缝隙，还是来自连接的电缆，或USB ，LAN 之类的通信接口。在这种情况下，我们可以通过近场测试的方法来定位辐射的真正来源。在认证机构中，使用经过各类校准的天线进行辐射泄露测试，都是进行的远场测量。标准的远场辐射泄漏测试，可以准确定量的告诉我们被测件是否符合相应的 EMI 标准。但是远场测试无法告诉工程师，严重的辐射问题到底是来自于壳体的缝隙，还是来自连接的电缆，或USB ，LAN 之类的通信接口。在这种情况下，我们可以通过近场测试的方法来定位辐射的真正来源。在认证机构中，使用经过各类校准的天线进行辐射泄露测试，都是进行的远场测量。标准的远场辐射泄漏测试，可以准确定量的告诉我们被测件是否符合相应的 EMI 标准。但是远场测试无法告诉工程师，严重的辐射问题到底是来自于壳体的缝隙，还是来自连接的电缆，或USB ，LAN 之类的通信接口。在这种情况下，我们可以通过近场测试的方法来定位辐射的真正来源。近场 EMI 测量的问题在于使用近场探头的测量结果和使用天线进行远场测量的结果无法直接进行数学转换。但是存在一个基本原理：近场的辐射越大，远场的辐射也必然越大。所以使用近场探头测量，实际上是一个相对量的测量，而不是精确的量测量。使用近场探头进行 EMI 预兼容测试时，我们常常把新被测件测试结果和一个已知合格被测件的近场探头测试（近场测试）结果进行比较，来预测EMI 辐射泄漏测试（远场测试）的结果，而不是直接和符合EMI兼容标准的限制线进行比较。同时，测试的数值意义也不大，因为这个测试结果和诸多变量，包括探头的位置方向、被测件的形状等会密切相关。电磁场是由电场和磁场构成。在近场，电场和磁场共同存在，其强度不构成固定关系。以电场为主还是磁场为主，主要是由发射源的类型决定的。简而言之，在高电压，低电流的区域，电场大于磁场。高电流，低电压的区域，磁场大于电场。同时在主要的EMI 测试频段，磁场随着距离的变化要快于电场。