BTS256-UV-1紫外线光谱仪Gigahertz Optik

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BTS256-UV-1紫外线光谱仪Gigahertz Optik

紫外线和蓝色光谱范围内高强度辐射源的典型应用是紫外线辐射固化、太阳模拟、紫外线消毒、紫外线测试系统和紫外线下水道修复。对于具有重复测量任务的基于过程的应用，宽带辐射计（例如带有 RCH-116-4 的 X11）通常是*的解决方案，因为它们易于使用、物有所值且重新校准成本低。

BTS256-UV 等光谱辐射计是宽带辐射计的替代品，可提供有关辐射源光谱分布的附加信息。如果必须研究宽带紫外线灯的波长相关老化行为，或者必须在不同波长范围内测量辐照度，则光谱信息尤为重要。如果必须测量不同光谱分布的源，这也很重要。为此，理想情况下，宽带辐射计需要单独的校准因子，将这些光谱差异考虑在内。这对于分光辐射计来说不是必需的。此外，光谱辐射计提供比宽带辐射计更精确的测量值。这是由于它们的光谱灵敏度函数对应于所选光谱测量范围内的矩形函数。为了在 UV 光谱范围内进行精确测量，需要非常好的杂散光抑制，而市场上通常可用的阵列光谱仪不具备这种能力。

BTS256-UV 光谱仪符合

光辐射领域辐射测量仪器的设计标准：

宽光谱灵敏度范围

200 nm 至 525 nm 的光谱灵敏度范围可在紫外至蓝色波长范围内进行精确的辐照度测量。甚至 UVA LED 的长波光谱分量（通常范围高达约 490 nm）也被*捕获。特别是，这种宽光谱范围支持辐射固化应用以及低至 UVC 范围的短波 LED 使用趋势。

余弦视野和平面设计

当样品被漫射照射时，正确测量角度相关的辐照度需要仪器的余弦视场函数。此外，传感器到辐照度参考平面的距离必须尽可能小。BTS256-UV 测量仪器的高度仅为 12 毫米，具有精确的余弦视场，是市场上的光谱仪之一，适用于绝对辐照度的精确测量。

杂散光暗信号

杂散光和暗信号都对带有 CCD 或 CMOS 阵列传感器的紫外光谱仪的测量结果有显着影响。如果 UV 灯的发射光谱具有长波分量（VIS 到 IR），则杂散光总是至关重要的，这会导致设备实际测量范围内的杂散光。UV 范围内的杂散光强度很容易超过实际测量信号的强度，从而导致相当大的测量误差。相比之下，暗信号是由移动使用期间的工作温度波动以及测量不同辐照度水平所需的积分时间变化引起的。

尽管设计非常扁平，但 BTS256-UV 光谱仪将创新的杂散光校正与集成滤光片以及标准暗电平快门结合在一起。这两个功能都是自动化的。这保证了不同发射器类型和不同工作温度下的精确辐照度测量。

强烈的紫外线和温度辐射

在实践中，光谱仪经常暴露在同样强烈的紫外线和温度辐射下，这些辐射应该会在应用中引发老化效应或交联过程。BTS256-UV 光谱仪内置于不锈钢外壳中，该外壳具有出色的紫外线稳定性和低热导率，可保护电子设备。同时保证了仪表波长和辐照度读数的稳定性。

手持式测量装置和过程流量计

使用 BTS256-UV-1 手持式仪表，传感器放置在距离仪表 250 毫米的位置。因此，它可以放置在辐射源的前面，而不会使操作员暴露在危险水平的紫外线辐射中。传感器本身非常平坦，总高度为 8 毫米。BTS256-UV-1 的校准在 225 nm - 525 nm 的波长范围内进行。

对于 BTS256-UV-2 流量计，传感器直接连接到仪表上。因此，它非常适用于样品通过传送带上的紫外线光源下方的紫外线系统。BTS256-UV-2 的校准在 200 nm - 525 nm 的波长范围内进行。

数据记录仪

除了阵列传感器，BTS256-UV 光谱仪还包括一个宽带光电二极管作为第二个传感器。这实现了比仅使用阵列传感器所能达到的更高的数据记录速率。

工厂校准和 ISO 17025 测试证书

Gigahertz-Optik 的测量实验室为其 BTS256-UV 提供高质量、可追溯的工厂校准。工厂校准在 Gigahertz-Optik 的校准实验室中使用与 NMI 认可的测试测量相同的质量管理程序进行处理。可选择提供具有 ISO/IEC/EN 17025 测试证书的 NMI 认可的测试测量。

BTS2048-UV

使用这款高质量的紧凑型光谱仪在紫外线下进行测量

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