当用一定尺寸的X线源拍摄该星卡分辨率测试卡的X光片时，可观察到模糊区域，通过观察此区域即可确定焦点的大小。由于半影效应，来自焦点不同区域的放射线会引起星卡分辨率测试卡的周期性模糊。根据已知的几何因素和星卡中心到模糊区之间的距离，就可以象利用针孔照相机技术一样准确地计算出焦点尺寸。
07-456高纯度铝梯级楔
^● 根据US 联邦规范 GG-X-635C 制作
^● 确定mAs线性
^● 确定对比度vs. kVp
^● 用于： －暗室雾测试 －胶片和显示屏的对比 －绘制技术图表这些高纯度铝梯级楔上，相同阶数的铝楔以铝数字区别 w

07-503 至07-551规格：
07-503-2000 高精度星形X光机检测模板, 直经55mm。用于测量0.1mm到0.3 mm的焦点。模板上有4个 15°的铅箔网扇形区，扇形区内每条铅线都有0.5°角。铅箔厚度0.03mm。

07-503-1000 超高精度星形X光机检测模板（规格与07-503-2相同）
07-509-2000 高精度星形X光机检测模板, 直径55mm. 用于测量1 mm以上的焦点.模板上有4个45°的铅箔网扇形区，扇形区内每条铅线都有2°角。铅箔厚度0.05mm。
07-509-1000超高精度星形X光机检测模板（规格与07-509-2相同）
07-542-2000 精密星形X光机检测模板，直径55mm。用于测量0.3mm到0.6mm的焦点。模板上有4个28°的铅箔网扇形区，扇形区内每条铅线都有1°角。铅箔厚度0.03mm。

07-542-1000 超高精度星形X光机检测模板（规格与07-542-2相同）