XRF涂层厚度测量,XRF涂层厚度测量参数-上海桑结实业有限公司

产品简介

XRF涂层厚度测量 L系列是博曼的通用机型。该系列将更大的样品室和更大的XY平台相结合。对于大的镀件，L系列是*品。大样品台和XY行程可实现大镀件的多点测量。封闭式样品仓可容纳12“x22“x24“（LxWxH）的样品。XY平台的行程为13“x10“。

详细介绍

XRF涂层厚度测量L系列产品概述：

L系列是博曼的通用机型。该系列将更大的样品室和更大的XY平台相结合。对于大的镀件，L系列是*品。大样品台和XY行程可实现大镀件的多点测量。封闭式样品仓可容纳12"x22"x24"（LxWxH）的样品。XY平台的行程为13"x10"。

标准配置包括一个4位置多准直器组件，以及一个可在凹陷区域进行测量的变焦相机。与其他型号一样，准直器尺寸和焦距可根据不同的客户应用进行定制。包括可编程的XY平台，为了满足更大样品测测量，XY平台可以移除。探测器采用硅PIN半导体探测器，可升级为高性能SDD探测器。

XRF涂层厚度测量L系列

可满足以下类型用户的需求：

- 样品的长宽高分别超过12"但小于24"

- 需容纳多个样品进行自动化多点测量

- 可扩展到更大尺寸的样品，用于未来的项目

- 符合IPC-4552A

博曼（Bowman）XRF镀层测厚仪 L系列产品参数：

类别

参数

元素测量范围：

X射线管：

探测器：

分析层数及元素数：

滤波器/准直器：

焦距：

数字脉冲器：

计算机：

相机：

电源：

重量：

可编程XY平台：

样品仓尺寸：

外形尺寸：

13号铝元素到92号铀元素

50 W（50kV和1mA）微聚焦射线管

190eV及以上分辨率的Si-PIN固态探测器

5层，每层可分析10种元素，成分分析至多可分析25种元素

4位置一次过滤器/4种规格准直器

可变焦

4096 多通道数字处理器，自动死时间和逃逸峰校正

英特尔, 酷睿 i5 3470 处理器 (3.2GHz), 8GB DDR3 内存, 微软 Windows 10 专业版, 64位

1 / 4"CMOS-1280×720 VGA分辨率

150W，100-240V，频率范围为47Hz至63Hz

110kg

平台尺寸：10"x 10"| 行程：10"x 10"

高度：280mm（11"），宽度：550mm（22"），深度：600mm（24"）

高度：750mm（30"），宽度：700mm（28"），深度：750mm（30"）