Cube系列X射线荧光分析测厚仪

一、功能

1. 采用X射线荧光光谱法无损测量金属镀层、覆盖层厚度，测量方法满足GB/T 16921-2005标准（等同ISO3497：2000、 ASTM B568和DIN50987）。

镀层元素范围：钛～铀，包含常见的金、镍、铜、银、锡、锌、铬、钯等。

镀层层数：多至5层。

测量点尺寸：圆形测量点，直径约0.2-0.8毫米。

测量时间：通常35秒-180秒。

样品大尺寸：330 x 200 x 170 mm (长x宽x高)。

测量误差：通常小于5%，视样品具体情况而定。

可测厚度范围：通常0.01微米到30微米，视样品组成和镀层结构而定。

同时定量测量8个元素。

定性鉴定材料达20个元素。

自动测量功能：编程测量，自定测量；修正测量功能：底材修正，已知样品修正
定性分析功能：光谱表示，光谱比较；定量分析功能：合金成份分析
数据统计功能：x管理图，x-R管理图，直方柱图。 

二、Cube系列X射线荧光分析测厚仪特点

采用基本参数法校准，可在无标样情况下生成校准曲线以完成测量。

X射线采用从上至下的照射方式，即使是表面高低不一的样品也可以正确测量。反之，如果是从下至上的照射方式，遇到表面凹凸的样品，无法调整Z轴距离，导致测量光程的变化，引起测量的误差。

具有多种测试功能，仅需要一台仪器，即可解决多种测试

相比其他分析设备，投入成本低

仪器操作简单，便可获得很好的准确性和重现性

综合性能:镀层分析 定性分析 定量分析
镀层分析:可分析四层以上厚度,*的FP分析软件,真正做到无标准片亦能进行准确测量(需要配合纯材料),为您大大节省购买标准片的成本.*超越其他品牌的所谓FP软件.

定性定量分析:可定性分析20多种金属元素,并可定量分析成分含量.
光谱对比功能:可将样品的光谱和标准件的光谱进行对比,可确定样品与标准件的差别,从而控制来料的纯度.
统计功能:能够将测量结果进行系统分析统计,方便有效的控制品质.

 产品技术参数：