IC器件测试插座示意图
IC器件测试插座、高频测试插座
GU41系列(1.0毫米/0.039英寸间距)
适用于BGA(FPGA),LGA测试和老化插座
1.0mm/0.039“间距18x18触点最大值
-也可用作老化插座-高可靠性-具有成本竞争力-交货时间
短-温度范围(典型值)
-40至+150℃(典型值)
[可接受的器件]
FTGB196(赛灵思)
256针FBGA(英特尔)
FT256/FTG256(赛灵思)
FG256/FGG256(赛灵思)
FG320/FGG320(赛灵思)
[可接受的器件]
FTGB196(赛灵思)
256针FBGA(英特尔)
FT256/FTG256(赛灵思)
FG256/FGG256(赛灵思)
FG320/FGG320(赛灵思)
GU41系列(1.0毫米/0.039英寸间距)
适用于BGA(FPGA),LGA测试和老化插座
1.0mm/0.039“间距18x18触点最大值
-也可用作老化插座-高可靠性-具有成本竞争力-交货时间
短-温度范围(典型值)
-40至+150℃(典型值)
