Sekidenko OR400M 外延片测温仪主要特点

• 自动环境温度校准

• 结构紧凑，易于集成

• 高速固态光电探测器

• 薄膜光伏电池生产过程的实时测量

• 可配置的滤光片，探测器和光学传输系统

详细说明

OR400M 单通道中波光学高温计用于需要更长波长的半导体应用，例如测量真空室内的石英。高温计安装在腔室外通过视窗进行非接触式测量。

由于玻璃具有*的透射特性，因此测量玻璃温度必须选择更长的波长（通常在5 µm以上）。这些波长使高温计可以“看见”玻璃基板，而不是透过玻璃测量对侧的物体或薄膜的辐射。OR400M 可在5.2 µm工作波段下对基于玻璃的应用（包括高杂散光背景存在情况）进行的精确测量

OR400M光学高温计可选用3.3 µm的近红外波段和5.2 µm的中红外波段。该设备的波长范围非常适合光伏（PV）太阳能应用中叠层PV电池组中的特定层温度的测量。PV电池层包括TCO（透明导电氧化物）层，钼背面接触层以及CIGS（硒化铜铟镓）或CdTe（碲化镉）沉积层。 为了选择正确的波长来测量每层的温度，必须考虑以下几点：

• 层的透射率属性

• 层的厚度

• 层的发射率

• 背景杂散光对测试的影响

技术参数

Sekidenko OR400M 外延片测温仪