Werth FlatScope平面零件光学扫描仪

Werth FlatScope平面零件光学扫描仪

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2024-11-09 10:48:55
1656
产品属性
关闭
德瑞华测量技术(苏州)有限公司

德瑞华测量技术(苏州)有限公司

中级会员5
收藏

组合推荐相似产品

产品简介

Werth FlatScope平面零件光学扫描仪适于工厂高速栅格二维扫描测量平面类零件,如线路板、手机外壳、模板等。封闭式结构,平面光源位于顶部机盖,CCD变焦系统位于机器底部,快速聚焦于大玻璃工作台表面,可同时测量位于工作台表面各种不同类型零件。

详细介绍

Werth FlatScope平面零件光学扫描仪适于工厂高速栅格二维扫描测量平面类零件,如线路板、手机外壳、模板等。封闭式结构,平面光源位于顶部机盖,CCD变焦系统位于机器底部,快速聚焦于大玻璃工作台表面,可同时测量位于工作台表面各种不同类型零件。

Werth FlatScope平面零件光学扫描仪,在铝型材行业有着广泛的应用,世界铝型材企业都在使用。

作为测量仪器,是当今世界上测量二维工件zui精确的二维扫描仪(申请中).


主要特点:
高速的矩阵式扫描系统,适用于生产现场的二维测量
工业图像处理系统,扫描规则的几何元素及自由轮廓
被测工件可任意位置放置
模块化的测量软件
利用投射光和透射光进行工件扫描
快捷方便的WinWerth评估软件
WinWerth软件CAD在线和*公差拟合测量
平面光源
精度采用高标准双边标定

 

技术参数:
测量范围(玻璃工作台 尺寸):
X = 400/650mm
Y = 200/400/600mm
zui大工件高度:Z = 100mm
光栅尺分辨率:0.1µm

测量机zui大允许误差:

变焦:
1)E1: (2.5+L/120) µm
 E2: (2.9+L/100) µm

固定镜头 0.4x:
2)E1: (4.9+L/100) µm
 E2: (4.9+L/75) µm

固定镜头 0.2x:
2)E1: (9+L/100) µm
 E2: (9+L/75) µm

1)20℃±2o Δ=1o/h  5X镜头  2)20℃±2度 Δ=1度/h
依据标准 ISO 10360 和 VDI/VDE 2617

上一篇:偏振光学元件是光学领域的多面手 下一篇:艾克赛普多通道光电器件测试解决方案
热线电话 在线询价
提示

请选择您要拨打的电话:

当前客户在线交流已关闭
请电话联系他 :