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霍梅尔T8000RC粗糙轮廓度仪zui大的特点是两个探测系统的智能化布置,所以组合测量非常*。粗糙度和轮廓通过两个单独的探测系统测定。
粗糙度测头通过套筒定位,甚至是一些难以达到的测量位置。轮廓测头的更换简单,必要时轮廓侧头和粗糙度测头可并行运行。
技术特点 | 主要特点 |
?粗糙度和轮廓通用的测量系统 | ?粗糙度测量和轮廓测量采用统一操作界面 |
?探测系统更换简单 | ?能够计算所有常见的表面轮廓、粗糙度和波纹度特征数据(90多个) |
?在整个进给长度内部都可以测量粗糙度 | ?可评价几何项目,如距离、角度和半径 |
?测头电动抬起/下降,所以测量流程自动 | ?测量粗糙度、波纹度和轮廓度时的探测距离是120mm |
?粗糙度测头既可与上面的套筒连接,也可安装在进给装置的下方 | ?在一个测量报告内评价粗糙度和轮廓特征数据 |
?进给导轨的精度高,并配置了数字光栅尺,所以结果精确 |
wavecontour™digital轮廓探测系统,行程120mm,带数字探测系统 | 精密测量粗糙度,测头的选择范围大,可以满足不同的测量需求 |
选项 | 供货范围 |
?通过电动倾斜单元和CNC软件实现完整的CNC功能 ?VDA和戴姆勒奔驰公司标准的特殊参数 ?螺纹纹路测量:测量粗糙度时可在切线方向进行旋转进给,螺旋纹路软件 ?工件表面形貌测量:电动Y向定位台和软件HOMMEL MAP,用于3D特征数据的显示和评价 ?经过认证的qs-STAT接口(AQDEF)。 ?轮廓标准块KN8 ?wavecontrol™basic操作面板 ?仪器台GTR
| ?带22"TFT显示屏的评价电脑,CD刻录器,轮廓测量评价软件 ?具有自动保存功能的PDF打印机 ?带自动探测功能的电动测量立柱wavelift™400 ?带增量值光栅尺的进给装置waveline™120advanced ?进给装置的倾斜和紧固单元,回转范围±45°,精回转范围±5° ?带10mm T槽的硬岩石板 ?TKU300/600测头一套,包含4个探针 ?固定测头支架FHZ ?粗糙度标准块RNDH2 ?wavecontour™digital或digiscan轮廓传感器,包含硬质合金探测头的测头臂 ?用于紧固工件的测量台MT1 XYO(也可以不选) ?校准用附件一套
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型号 | T8000RC digital | T8000RC digisacn |
测量范围 | R:±300μm or 600μm
C:60mm | R:±300μm or 600μm
C:60/90mm |
zui小分辨率 | R:1nm or 2nm; C:50nm | R:1nm or 2nm;C:50/75nm |
测力设置 | 手动 | 电子 |
水平测量范围/水平分辨率 | 120mm/0.1μm | 120mm/0.1μm |
内/外探测 | - | 可选 |
测量立柱行程 | 400mm | 400mm |
硬岩石板 | 780x500mm | 780x500mm |
可拓展配置1000X500mm底座或800mm测量立柱 |