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霍梅尔T8000SC粗糙轮廓度综合测量仪配置了分辨率*的探测系统,同时测定粗糙度和轮廓。几何参数以及粗糙度特征数据在一个流程中的评价。此测量系统性价比优秀,具备的测量功能和能力可以和复杂的实验室测量系统媲美。
技术特点 | 主要特点 |
?分辨率出色,6mm测量范围的分辨率是6nm | ?粗糙度测量和轮廓共用一个探测系统 |
?仅在一个测量范围内便具备完整的分辨率 | ?测量斜面和曲面的粗糙度 |
?测量力可调 | ?由于测量范围大,所以测量系统不再需要相对工件表面定位 |
?测头电动抬起/下降,所以测量流程自动 | ?磁性测头臂支架,测头臂更换迅速可靠 |
?模块化结构,可拓展 | ?用于评价粗糙度和轮廓特征的软件功能广泛 |
针对不同测量任务,磁性测头臂支架保证了测头臂的更换迅速、简单、可靠。 | 配置了wavecontour™surfscan 探测系统的粗糙度轮廓综合测量仪正在测量滚珠丝杆。 |
选项 | 供货范围 |
?通过电动倾斜单元和CNC软件实现完整的CNC功能 ?用于特殊测量需求的粗糙度和轮廓测头臂 ?经过认证的qs-STAT接口(AQDEF)。 ?轮廓标准块KN8 ?wavecontrol™操作面板 ?仪器台GTR
| ?带19"TFT显示屏的评价电脑,CD刻录器,粗糙度和轮廓测量评价软件 ?具有自动保存功能的PDF打印机 ?带自动探测功能的电动测量立柱wavelift™400 ?带增量值光栅尺的进给装置waveline™120advanced ?进给装置的倾斜和紧固单元,回转范围±45°,精回转范围±5° ?带10mm T槽的硬岩石板 ?wavecontour™surfscan测头,包含金刚石探测头和红宝石探头的两个测头臂 ?粗糙度标准块RNDH2 ?用于紧固工件的测量台MT1 XYO ?校准用附件一套
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型号 | T8000SC digital |
测量范围 | R+C:6mm |
zui小分辨率 | R+C:6nm |
水平测量范围/水平分辨率 | 120mm/0.1μm |
测量立柱行程 | 400mm |
硬岩石板 | 780x500mm |
可拓展配置1000X500mm底座或800mm测量立柱 |