半导体推力测试仪是一种应用于航空、航天等领域的*测试仪器。它可用于测试各种推进系统在推力、推力变化、推力稳定性等方面的表现情况。
半导体推力测试仪亦可称之为大面积推拉力试验机，可进行拉伸、压缩、弯曲、剥离、撕裂、剪切、刺破、压陷硬度、低周疲劳等各项物理力学试验。还能自动求取大试验力、断裂力、屈服HRb、抗拉强度、弯曲强度，弹性模量、伸长率、定伸长应力、定应力伸长、定应压缩等，故广泛应用于半导体封装、LED封装、智慧卡封装、通讯电子、汽车电子产业及各类研究所、大专院校、电子电路失分析与测试等领域。
半导体推力测试机通过各种夹具的配合完成抗拉、弯曲、压缩等多种力学检测。夹具是推拉力测试机中重要的一个零件。通过夹具夹持试样对试样进行加力，夹具所能承受的试验力的大小是夹具的一个很重要的指标。它决定了夹具结构的大小及夹具操作的劳动强度的大小。推拉力测试机之所以能做各种试验其重点在于夹具的选择。
使用原理是什么？
力值测量：通过力传感器、放大器和数据处理系统进行测量。常用的测力传感器是变形芯片传感器。
应变传感器是指用应变计、弹性元件和一些附件(由补偿元件、防护罩、接线插座、装载机组成)将特定的机器量转化为电能输出的装置。
应变芯片的拉力、压力传感器在国内外各不相同。主要有圆柱力传感器、运动传感器、S双孔传感器、交叉光束传感器等。
从材料力学可以看出，在小变形条件下，弹性元件上一点的变形与弹性元件的力成正比，与弹性变化成正比。对于S型传感器，当传感器起到张力P的作用时，弹性元件表面会附着应变计，因此弹性元件的应变率与外力P的大小成正比，所以将应变计连接到测量电路上，就可以通过测量输出电压来测量力的大小。连接计算机用于收集和分析数据，进入实验界面后，计算机会不断收集各种实验数据，实时绘制实验曲线，自动查找各实验参数和输出报告。
半导体推力测试仪及推力测试方法包括：套管，套管内部为中空，套管的一端设有与内部连通的开口；弹性组件设置在顶针套内；测试顶针可沿顶针套的轴向往复运动，并可移动地设置在顶针套内，测试顶针具有位于顶针套内且可抵靠弹性组件的一端，以及相对设置并延伸出顶针套的另一端。测试顶针的一端挤(压)压缩弹性元件当测试顶针的另一端推动被测装置时，使测试顶针的另一端部分或全部缩入顶针套内，从而实现被测装置的推力测试。当测试顶针推动被测器件时，测试顶针的另一端压住弹性元件，弹性元件的弹性与测试头对被测器件的推力相同。当弹性元件的弹性达到被测装置的推力标准时，可以判断被测装置的推力合格，从而避免被测装置报废，节约检测成本。
