非接触光学变形测量系统
非接触光学变形测量系统

HC-OMS2非接触光学变形测量系统

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2024-06-25 11:15:53
1020
属性:
产地类别:国产;价格区间:面议;应用领域:化工,地矿,建材,综合;
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产品属性
产地类别
国产
价格区间
面议
应用领域
化工,地矿,建材,综合
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建研华测(杭州)科技有限公司

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产品简介

HC-OMS2非接触光学变形测量系统,采用工业近景摄影测量、数字图像等相关方法,通过获取物体表面变形前后的数字散斑图像,追踪散斑位置和形状的变化,实现变形过程中物体表面位移及应变的测量,具有多项自主知识产权。

详细介绍

非接触光学变形测量系统

Non-Contact  Optical  Measurement System for Testing  deformation

型号:HC-OMS2


一、概述

非接触光学变形测量系统,是结合数字图像相关技术(DIC)与双目立体视觉的一种非接触测量技术,主要采用数字散斑相关方法,结合双目立体视觉技术,采用两个工业摄像头,实时采集物体各个变形阶段的散斑图像,利用图形相关算法进行物体表面变形点的立体匹配,重建出匹配点的三维空间坐标。


二、性能特点

1. 实时精确测量二维和三维参数;

2. 位移、应变、泊松比等,应力/应变曲线、弹性模量(力信号接入);

3. 实时测量多个目标点,横纵向均可测量 ;

4. 同步测量多个参数,比如: 同时测量位移、变形、泊松比等 ;

5. 拍摄实验过程, 后期可对录像进行再分析;

6. 测量所需前期准备简单便捷;

7. 非接触光学测量,测量范围广泛。


三、技术参数

1. 核心技术:工业近景摄影测量、数字图像相关法;

2. 相机像素:500万像素;

3. 相机帧率:25帧;

4. 镜头:25mm;

5. 位移测量精度0.001mm—0.01mm;

6. 应变测量精度:0.01%-1000%;

7. 应变测量精度:0.005%;

8. 标记工具:散斑制备或者标记点;

9. 测量结果:三维坐标、全场位移及应变;

10. 测量幅面:支持4mm-4m范围测量幅面,更多测量幅面可定制;

11. 测量相机:支持百万至千万像素相机,支持低俗到高速相机,支持千兆网和Camera Link等多种相机接口;

12. 相机标定:支持任意数目相机的同时标定,支持外部图像标定;

13. 支架:云台和三脚架;

14. 测量模式:二维及三维变形测量可选配;

15. 实时测量:采集图像的同时,实时进行全场应变计算;

16. 多测头同步测量:支持多相机组同步测量,可同步测量多个区域的变形应变;

17. 动态变形模块:具备圆形标志点动态变形测量功能 ;

18. 分析创建功能:点点距离、点线距离、点面距离等;支持点数据分析。


四、标准配置

序号

名称

数量

单位

备注

1

软件安装光盘

1


2

软件使用手册

1


3

进口工业相机

1

500万像素

4

进口相机镜头

1

12mm

5

LED灯

1


6

系统控制箱

1

见配件箱

7

三脚架

1


8

三维云台

1


9

标尺

1


10

包装箱,专用附件工具

1





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