我司的实时瞬态锁红外热分析系统（RTTLIT）采用实时瞬态红外锁相分析技术，采用高频高灵敏度红外摄像机，结合高速图像算法，实时提取微弱红外光谱信号，其可以用于无损耗的分析电子产品的短路/泄露缺陷。实时瞬态锁相红外分析技术具有实时同步输出、抗干扰能力强、相位图像和时间分割更精确的优点，即使不在暗室，也能正常工作。同时，我们有多种相机可供选择，包括短波红外、中波红外、长波、可见光、紫外线，甚至多台相机可用于同一台机器，以实现更好的设备性能。

其中，短波InGaAS红外相机（0.099~1.7um）适用于EMMI检测（低光斑检测），中波（3~5um）和长波红外（7~14um)适用于热EMMI检测；

我们的产品可以应用于分析：芯片、IC、元件、PCB、PCBA、LED、LCD、IGBT、PEAK等多种产品，成为电子半导体和集成电路故障分析的有力助手。