晶圆检测机
晶圆检测机
晶圆检测机

HEP-MC8000晶圆检测机

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2024-10-10 18:51:48
269
产品属性
关闭
武汉赛斯特精密仪器有限公司

武汉赛斯特精密仪器有限公司

初级会员5
收藏

组合推荐相似产品

产品简介

晶圆检测机采用非接触检测系统,对晶圆的平面度、厚度、粗糙度等进行检测并分类,并完成晶圆标记及数据处理。
该设备产能:1片/分钟。
该设备主要包含:
运动机构:将晶圆放入工作台,通过高精度运动模组,移动晶圆进行扫描检测。
检测部分:集成相机、激光三维轮廓测量仪、位移激光传感器对晶圆的厚度、平面度、粗糙度等进行全方面的检测。

详细介绍

晶圆检测机采用非接触检测系统,对晶圆的平面度、厚度、粗糙度等进行检测并分类,并完成晶圆标记及数据处理。

该设备产能:1片/分钟。

该设备主要包含:

运动机构:将晶圆放入工作台,通过高精度运动模组,移动晶圆进行扫描检测。

检测部分:集成相机、激光三维轮廓测量仪、位移激光传感器对晶圆的厚度、平面度、粗糙度等进行全方面的检测。

晶圆检测机检查内容:

检查项目

指  标

备 注

表面缺陷检查

崩边(非立崩)、缺口

可检能力≥170um*170um

检出率100%

图像灰度值差距>30;列出大小指标是可检能力,设置过小会存在误判多的问题,因此设定参数需按实际生产需求设定

沾污

可检能力≥170um*170um

检出率≥95%

误检率<0.5%(大小≥450um*450um情况下或实际生产需求设定的指标)

划伤

可检能力≥170um*170um

检出率>95%(大小≥170um*450um情况下或实际生产需求设定的指标)

划伤浅易漏检

3D检测

厚度

检测精度分辨率+/-0.25um

测量重复性:≤±1μm

GR&R<10%

最大、最小、平均值

TTV

测量精度+/-2um

GR&R<10%

TTV整条线

翘曲、变形

测量精度+/-2um

GR&R<20%

最大值

平面度

+/-0.5um

偏差值

粗糙度

计算值

处理能力

检测周期

60s/片




上一篇:微光显微镜(Emission Microscope, EMMI) 下一篇:半导体检测设备原理
热线电话 在线询价
提示

请选择您要拨打的电话:

当前客户在线交流已关闭
请电话联系他 :