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美国 Tobias Associates 彩色密度计
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面议瑞士 Fiber Optic 卤素冷光源 灯
面议美国 Valhalla Scientific 功率分析仪
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面议AP Tech离子源, 冷场发射器 溅射阴极
面议AP Tech热离子发射阴极
面议波兰 PREVAC MOKE系统 真空 分析仪器
波兰 PREVAC MOKE系统 真空 分析仪器 project 516
用于通过电子束蒸发进行薄膜沉积的超薄磁性薄膜和多层膜的原位实时磁光克尔效应研究的 UHV 系统。
150 °C 烘烤后的基本压力范围 10 -10 mbar
磁极垂直于样品排列
场 beetwen 磁极 > 0,17 特斯拉
用于标志样品架的 4 轴 UHV 样品操纵器
样品加热至 800 °C 并用 LN 2冷却
MOKE 室的光学系统(调制器、偏振器、光电探测器、激光器)
带设备的整个腔室安装在定位台上
真空手提箱,便于样品运输
AES ARPES EA15 EA15-HP50 IS 40C1 IS 40E1 ISS Kerr效应 MBE MBE Chamber MBE腔室 Prevac PREVAC 离子源 TPD/TDS UHV特高压多室分析系统 UHV表面科学分析系统 UPS UVS 40A2 XPS(ESCA) X 射线源 光电子能谱仪 光电子能谱测量仪 半球分析仪 半球能量分析仪 原子力显微镜 原子力显微镜分析 原子力显微镜分析系统 多层薄膜的原位实时磁光Kerr效应 无油真空泵 残留气体分析仪 真空光谱仪 真空室 真空油泵 真空泵 真空泵系统 真空测控装置 真空能量分析 真空能量分析光谱 真空腔 真空表面分析系统 离子源 表面分析系统 超薄磁性薄膜 高压光发射光谱特高压系统 高真空泵