薄膜测厚仪主要用于测定薄膜、薄片等材料的厚度，测量范围宽、测量精度高，具有数据输出、任意位置置零、公英制转换、自动断电等特点。本产品的出现，大大提高了纸张等片材厚度测量的精度，尤其是在自动化生产线上，得到广泛应用。

　　使用两个激光传感器安装在被测物（纸张）上下方，将传感器固定在稳定的支架上，确保两个传感器的激光能对在同一点上。随着被测物的移动传感器就开始对其表面进行采样，分别测量出目标上下表面分别与上下成对的激光位移传感器距离，测量值通过串口传输到计算机，再通过我们在计算机上的测厚软件进行处理，得到目标的厚度值。

　　薄膜测厚仪的技术特点有哪些呢？想知道的赶紧来看看吧。

　　1、严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制；

　　2、测试过程中测量头自动升降，有效避免了人为因素造成的系统误差；

　　3、支持自动和手动两种测量模式，方便用户自由选择；

　　4、实时显示测量结果的大值、小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断；

　　5、配置标准量块用于系统标定，保证测试的精度和数据一致性；

　　6、系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能，方便快捷地获取测试结果；

　　7、系统由微电脑控制，搭配液晶显示器、菜单式界面和PVC操作面板，方便用户进行试验操作和数据查看；

　　8、标准的RS232接口，便于系统的外部连接和数据传输；

　　9、薄膜测厚仪支持Lystem实验室数据共享系统，统一管理试验结果和试验报告；