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FE-300膜厚量测仪
产品信息
特 长
薄膜到厚膜的测量范围、UV~NIR光谱分析
高性能的低价光学薄膜量测仪
藉由反射率光谱分析膜厚
完整继承FE-3000机种90%的强大功能
无复杂设定，操作简单，短時間內即可上手
线性小平方法解析光学常数（n:折射率、k:消光系数）
测量项目
• 反射率测量
•膜厚解析（10层）
•光学常数解析（n：折射率、k：消光系数） 参考价面议 -
OPTM涂层测厚仪
涂层测厚仪非接触、非破坏、显微测量目标膜的反射率，高精度测量膜厚和光学常数，实现高性能、高再现性。 参考价面议 -
MCPD透过率测试仪
MCPD系列透过率测试仪能对紫外、可视、红外区域的光谱进行高速、高灵敏度的检测。共12个波长，可配合客户的需求与测量用途，选择适合的检测器。 参考价面议 -
GS-300晶圆测厚仪
GS-300 晶圆测厚仪搭载图案对准功能，X-Y位置确认精度2μm以下。 参考价面议 -
GS-300晶圆检测设备
晶圆检测设备GS-300可安装在load port区，具有高精度自动校准单元和自动mapping系统。可根据客户要求选择适合的设备。 参考价面议 -
OPTM薄膜测厚仪
薄膜测厚仪，非接触、非破坏、显微测量目标膜的反射率，高精度测量膜厚和光学常数，实现高性能、高再现性。 参考价面议 -
nanoSAQLA进口粒度分析仪
进口粒度分析仪nanoSAQLA利用光的散射简单且轻松的测量粒径。大可连续测量5个样品。 参考价面议 -
ELSZ-2000高浓度zeta电位仪
高浓度zeta电位仪，采用电泳光散射法（Laser Doppler法），实现高精度测量稀溶液到浓溶液粒径与zeta电位，更近一步评价固体表面、分子量。亦可对应小尺寸平板zeta电位测量。 参考价面议 -
ELSZ-2000Zeta电位测试仪
Zeta电位测试仪，采用电泳光散射法（Laser Doppler法），实现高精度测量稀溶液到浓溶液粒径与zeta电位，更近一步评价固体表面、分子量。亦可对应小尺寸平板zeta电位测量。 参考价面议 -
nanoSAQLA纳米粒径仪
纳米粒径仪nanoSAQLA利用光的散射简单且轻松的测量粒径。大可连续测量5个样品。 参考价面议 -
ELSZ-2000激光粒度分析仪
激光粒度分析仪ELSZ-2000，采用动态光散射法，实现高精度测量稀溶液到高溶液的粒径与zeta电位，更进一步评价固体表面、分子量。测量时间短、精度高。 参考价面议 -
线扫描膜厚仪离线型
线扫描膜厚仪离线型采用线扫描方式可同时测量500点膜厚，实现全宽测量。作为专业膜厚测定厂商，提供多种支援。 参考价面议