EXFO WA-1100 光波长计

详情介绍

产品简介：

Burleigh WA-1100光波长计采用基于迈克尔逊干涉计的W**波长计技术，通过将被测光信号的干涉条纹图与内置的HeNe激光波长标准相比较，确定被测光信号的波长。

WA-1100波长光学波长计可提供精度的波长测量和同时的功率测量，并且专为表征制造环境中的WDM组件而设计。

这些系统采用了Burleigh业已证明的基于迈克尔逊干涉仪的扫描型Wavemeter技术，通过将其干涉条纹图案与内置HeNe激光波长标准的干涉条纹图案进行比较，来确定测试激光的波长。与其他波长计不同，要考虑所有可能影响波长测量的因素，以使WA-1100达到±1 ppm的高波长精度。

为了提供对WDM组件的更完整分析，这些波长表可同时测量光输入信号的总功率。此外，漂移功能可自动监测波长或功率的任何变化，并随时间变化。显示电流值及其与测量起点的偏差，以提供测试激光器的实时状态。还报告了大值和小值以给出在测量过程中达到的极限。

EXFO WA-1100 光波长计

主要特征：

范围:700 - 1650 nm (181 - 428 THz)。

准确度:±1.5 pm。

显示分辨率:0.001 nm。

准确度:±0.5 dB(1310和1550 nm处±30 nm处)。

功率分辨率:0.01 dB。功率线性:±0.3 dB。

功率显示分辨率:0.01 dB。

光学输入信号灵敏度:-30 dBm(0.1圀),1200 - 1600海里;-20年dBm(1.0圀),700 - 1650 nm。大输入电平(所有线路的总和):+ 10 dBm (10 mW)。

测量周期:0.1秒(10次/秒)。

仪器接口:GPIB (IEEE-488.2)， RS-232, LabVIEW, LabWindows