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红外光非接触式测厚仪的检测优势

时间:2022-08-01      阅读:1058

红外光非接触式测厚仪的检测优势

红外线可以穿过某些物质。
这是一种利用此特性在不接触的情况下测量特定材料厚度的技术。

由于电子设备中使用的硅、蓝宝石、水晶和其他化合物的表面都经过高精度抛光,因此不能使用基于接触的厚度测量,因为它会划伤它们。
此外,由于材料会变形,因此无法通过接触法准确测量橡胶、薄膜、软树脂等的厚度。

激光和电容是非接触式厚度测量的常用方法,但这些是位移计,不能测量绝对值。我们的红外光法可以测量绝对值。

 

红外光测厚原理

当红外光投射到工件上时,它首先被表面反射。
此外,红外光透过工件内部并在背面反射。
正反两面反射的光被光学探头接收,利用正反两面反射光的时间差作为光干涉差来测量厚度。

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允许对多层进行单独的厚度测量

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基于此原理,在如上图所示的多层工件的情况下,可以从各个反射光的干涉差来测量单个厚度。

 

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以上是PC上显示反射光干涉状态的界面。
从波形的左边看,它变成了R1到R4的干扰波。每个干涉差(Peak to Peak)是每一层的厚度。

 

 

绝对值测量的*性

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《相对值测量》

位移计是一种相对值测量,它测量距离的差异作为厚度。因此,必须准备一个参考平面(零点)。
此外,如果到参考表面的距离 (Gs) 不是恒定的,则会出现错误。如果无法维持或随时间变化,则每次执行测量时都需要进行零点复位。

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《绝对值测量》

红外光测量是通过前后表面反射光的干涉差获得的,因此只需将工件放在传感器头下方即可测量绝对厚度。
即使到工件的距离(Ga)有一定波动,如果范围小于最大测量厚度(约4mm)-工件厚度(t),测量值和精度不会受到影响。

  
测量距离的*性
为了用位移计达到0.1μm的精度,传感器头到工件的距离一般必须在10mm以下。
采用这种红外光法,测量距离可任意设置,最大可达1000mm左右,可保持0.1μm的测量精度。



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