方阻计 四探针测试仪方阻计四探针法测试低阻材料方阻及电阻率，可以测试到1uΩ方阻值，采用AD芯片控制，恒流输出，液晶显示，自动数据测量，系数补偿，

参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量. 提供中文或英文语言版本

四探针测试仪方阻计 四探针测试仪适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析半导体材料质量的工具；液晶显示，自动测量和系数补偿，并带有温度补偿功能，自动转换量程；采用AD芯片控制，恒流输出，选配：PC软件，保存和打印数据，生成报表

用于：覆盖膜;导电高分子膜，高、低温电热膜;隔热、导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸;金属化标签、合金类箔膜;熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层，电阻式、电容式触屏薄膜;电极涂料，其他半导体材料、薄膜材料方阻测试等相关产品

参数资料

1.方块电阻范围：10-5～2×105Ω/□   

2.电阻率范围：10-6～2×106Ω-cm

3.测试电流范围：0.1μA ，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100 mA

4.电流精度：±0.1%读数

5.电阻精度：≤0.3%

6.PC软件界面：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率、电阻率、压强等.

7.测试方式: 四探针测量（体电阻率）和四端法（接触电阻测量）

8.压力范围：0-1000kg（0-4MPa）.

9. 样品形状为正方形（镀金电极为5cm×5cm)，面积为25cm2（其他规格定制）

10.工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz  功 耗 lt;30W

11. 加压方式：自动

12. 样品高度量程和精度：高度测量范围：0.001-10.001mm，测量分辨率0.001mm

13.温湿度范围：常温-50度；湿度：20%-98%

14.恒压时间：0-99.9S

15.标配标准件：a.标准校准电阻1个；b.标准高度校准件1个

16. 工作电源：220±10% 50HZ/60HZ

半导体材料电阻率的国际及国标测试方法有关规定设计。它主要由电器测量部份（主机）及四探针头组成，需要时可加配测试架。

为减小体积，本仪器用同一块数字表测量电流及电阻率。样品测试电流由高精度的恒流源提供，随时可进行校准，以确保电阻率测量的准确度。