大致来说，声发射仪器经历了四个阶段的发展，也可认为前面经历了四代声发射仪。

第一阶段，1965年，美国Dunegan推出了第一台商业化的声发射仪，一直到1983年基本都是纯模拟技术实现的声发射仪，也是第一代声发射仪，信号带宽100kHz-1MHz；

第二代声发射仪，1983~1994年，美国PAC的SPARTAN-AT开始引入微处理器，并将声发射系统模块化，部分数字化，信号带宽提高到100kHz~1.2MHz；

第三代声发射仪，1994~2003年，美国DW、美国PAC和德国Vallen将声发射仪全面数字化，声发射传感器接收到的信号经过放大器放大之后直接经AD变换器专为数字信号，然后用数字电路硬件提取特征参数，并按照PDT、HDT、HLT等时间常数来提取声发射波形，信号带宽拓宽到1kHz~2MHz；

第四代声发射仪，2003~2015年，美国PAC将18bit的高速ADC引入PCI总线声发射卡，开启了18bit的高精度采集，除了特征参数和波形外，还启用了包含全部原始信息的波形流功能。在此期间，USB接口的声发射仪也开始出现，并逐步从USB2.0发展到USB3.0，总线传输速度也从40MB提高到400MB，信号带宽提高到1kHz~3MHz；

虽然第四代声发射仪拥有了18bit高采样精度以及高采样率，但由于PCI或USB总线的带宽限制，只能传输声发射特征参数和根据PDT、HDT和HLT提取的有限的声发射波形，大部分的原始波形流数据都只能丢失而无法上传到计算机。或者是以有限的带宽来传输部分波形流，譬如单块PCI卡的总采样率不超过10M时可以传输波形流。而声发射研究的信号频率逐渐提高（日本富士公司甚至推出了10MHz频率的声发射传感器REF10M），使得采样率也逐步提高，而且传统的特征参数和声发射特征波形的分析方法无法满足用户日益增长的研究需求，因此提高声发射卡的带宽迫在眉睫。于是鹏翔科技从2009年开始封闭式研发，并在2015年底推出了PCIE总线的声发射卡，单卡8通道，每通道18bit30M采样，频率带宽高达1kHz~5MHz，且采用PCIE x8倍速传输，板卡传输带宽高达2.6GB/s，第四代声发射仪存在的传输瓶颈得到解决。除了声发射特征参数和波形的硬件实时提取之外，波形流功能也得以不受带宽限制的全速采集和实时传输。同时，适合分布式检测的千兆网接口的网络声发射仪开始出现，并将逐步向万兆光纤传输发展，实现远距离的分布式声发射检测。同时声发射仪器的信号带宽提高到1kHz~5MHz，这也意味着第五代的声发射仪开始大量投入市场应用并逐渐得以普及。

每块PXDAQ18373E拥有8个独立的高速同步采集通道，在普通计算机或工控机上即可实现8~56通道的声发射仪。

如配合16槽的PCIE机箱，可实现单机128通道的声发射信号采集分析。另外，每块声发射卡还可同步采集10路外参数，多卡可累加使用。

PXDAQ18373E除了实时提取特征参数和根据PDT、HDT和HLT时间常数来提取声发射波形外，还可以所有通道全速采集并实时传输原始的波形流文件。这是迄今为止世界上其他声发射产品所无法实现的。

PAW声发射工作站共有9个系列，其中采用PAW7工作站可实现单机80通道，采用PAW8可实现单机128通道，采用PAW9最大可实现单机768通道（使用6台16槽PCIE扩展坞）。