J-RAS高压绝缘可靠性测试机

HVUα高電圧絶縁信頼性試験装置

离子迁移试验装置

型号：HVUα-1000/HVUα-2000/HVUα-3000

电化学迁移现象是指印刷布线板等原本良好的绝缘物，在施加电偏置电压的状态下发生的电化学现象。电子化学迁移发生、成长，电极间短路的现象。

印刷线路板等发生电子化学迁移的话会造成零件的损伤~产品的损伤，有时会产生较大的损害和损失。因此，在新材料和新产品的研究阶段的可靠性评价试验中也被作为重要的评价项目。

特点

100n秒以下的高速事件计测功能也能检测出部分放电(可与电阻值数据同时计测)

通过CH个别电源装载和CH个别反馈，对各样品施加稳定的电压

通过CH个别电源装载&CH个别控制，可对所有CH设定不同的外加电压

因为没有机械式继电器的扫描，所以在连续测试中故障少

短路检测电路的CH个别装载瞬间的样品短路也追随

通过基于三氧化二电缆的主动保护实现低噪声测量(测量侧)

软件可以显示图表和收录数据

以5个通道为单位，可根据需求配置系统

J-RAS高压绝缘可靠性测试机 

用途

⾼电压元件的绝缘可靠性评价,连续功率模块的耐压,耐迁移印刷电路板的性能评价,其他⾼电压绝缘零件的可靠性评价。