J200 LIBS元素分析仪

一、简介

J200 LIBS元素分析仪基于30多年激光剥蚀基础理论研究成果，系统快速、可靠、环保，可适应从实验室到现场再到生产车间的各种应用环境。

二、系统功能

J200 LIBS元素分析仪专为处理需高灵敏度和准确性的分析而设计，周期表中许多元素检测限可达ppm个位数，挑战样品基质中多元素定量分析。系统实现了从氢元素到钚元素的全元素测量，包括H、N、O等轻元素以及卤族等其他传统方法（包括ICP-MS）不能测量的元素。系统*的设计确保每个激光脉冲的可重复测量结果。

系统将LIBS技术和ICP-MS结合，将剥蚀出的固体样品微粒直接送入ICP-MS进行更准确的分析，避免酸溶、消解等样品前处理带来的二次污染和可能的误差引入，同时提升元素检测限，实现宽范围元素含量测量，还能进行元素空间分布制图。

检测范围

J200 LIBS元素分析系统可分析各种样品，包括土壤，植物，矿物、生物组织，刑侦材料（玻璃、油墨等），合金，半导体，绝缘体，塑料，薄涂层和电子材料等等。

检测元素种类

常量元素N, P, K, Ca, Mg, S

微量元素Fe, Cu, Mn, Zn, B., Mo, Ni, Cl

痕量元素：可检测化学周期表上大部分元素

有机元素C、H、O和轻元素 Li、Be、Na等（其他技术难同时检测）

同位素（升级与ICP-MS 联用测量)

三、应用领域

• 常规土壤元素分析

• 土壤污染检测

• 刑侦微量物证分析

• 煤粉组分分析

• 矿物检测

• 生物组织分析

• 农产品检测

• 合金分析

• 宝石鉴定

• 各种材料分析等

四、系统硬件

优化等离子体光收集，实现高灵敏度测量。

系统确保高准确性和可重复性。LIBS分析种提高LIBS数据精度的关键要求之一是激光始终如一的聚焦到样品表面。剥蚀导航激光和样品高度自动调整传感器相结合，解决了样品表面凹凸不平导致剥蚀不均匀的问题。激光能量稳定阀确保到达样品表面的激光能量稳定一致，系统标配3D全自动操作台。

系统可升级与ICP-MS连用，在进行LIBS元素分析的同时，将固体样品剥蚀颗粒直接送入ICP-MS系统，实现更准确分析。这弥补了ICP-MS不能测量部分轻元素的不足，也避免了复杂样品前处理及由此引入的二次污染和误差。系统可与市面上绝大多数主流品牌ICP-MS联用。

系统标配固体样品室，还可选择配置气体或液体样品室，通过设置可自动切换光路系统，实现固、液、气体样品室在同一系统中的自动化切换，无需人为拆卸。

系统的硬件采用模块化设计，易于更新。激光器和光谱仪可根据样品的种类及用户研究目的进行升级，两者均不受外界环境温度影响，无需进行特殊的环境控制，使用寿命长。

系统具备双相机系统，分别用于广角成像整体观察样品确定采样区域，然后另一个成像系统放大样品区域进行采样。

激光能量和激光光斑大小连续可调，激光脉冲能量稳定一致，可实现样品分层剥蚀、夹杂物和微光斑分析（直径达5μm）、元素分布制图、高精度定量等多种分析。

五、系统软件

系统软件能实现对所有硬件组件的控制，能提供多种采样模式，包括直线、曲线、随机点、网格任意大小和自定义采样等，通过设置参数，可在无人值守的条件下自动进行大面积采样。

ASI公司的TruLIBS™数据库是等离子体发射光谱数据库，与NIST数据库相比，TruLIBS™数据库能快速、准确地识别复杂的元素谱线，各种搜索功能，如波长范围、元素种类和等离子体激发态，将搜索时间缩短至几秒。TruLIBS™同时允许用户直接上传元素激光诱导特征谱线，进行谱峰的识别和标记。

系统内置的数据分析软件功能强大、分析速度快。能任意选取谱线及背景，自动计算谱线的净强度；计算两个波峰之比；自动计算所有波峰的标准偏差；同步分析所有文件夹及目录下的测量数据。多次采样时，软件自动统计监测LIBS的强度 ，监控信号质量，获得准确的定性和定量分析结果。

数据分析软件具有单变量和多变量校准曲线制定功能，易于完成高精度定量分析。单变量标定曲线对于基质较为简单的样品分析效果较好。多变量标准曲线用于分析基质较为复杂的样品，例如土壤、植物样品等，以减少基质中其它元素对目标元素的影响，提高分析准确性。

J200的数据分析软件还整合了PCA、PLS-DA、多参数线性回归等多种化学统计分析功能。可对样品进行快速分类鉴别，并可通过样品某一特定元素的二维或三维分布制图，展示样品的元素空间分布。

产地：美国