GCSTD-D-高低频介电常数测试仪_电学-上海准权仪器设备有限公司手机版

产品简介

高低频介电常数测试仪是各种金属氧化物，板材，瓷器（陶器），云母，玻璃，塑料等物质的一项重要的物理性质。通过测定可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据。该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机金属新材料性能的应用研究。

详细介绍

GCSTD-D高低频介电常数测试仪

性能特点

■ 测试频率20Hz～2MHz，10mHz步进 ■ 测试电平10mV～5V, 1mV步进
■ 基本准确度0.1%
■ 最高达200次/s的测量速度
■ 320×240点阵大型图形LCD显示
■ 五位读数分辨率
■ 可测量22种阻抗参数组合
■ 四种信号源输出阻抗
■ 10点列表扫描测试功能
■ 内部自带直流偏置源
■ 外置偏流源至40A(配置两台TH1776)(选件)
■ 电压或电流的自动电平调整(ALC)功能
■ V、I测试信号电平监视功能
■ 图形扫描分析功能
■ 20组内部仪器设定可供储存/读取
■ 内建比较器,10档分选及计数功能
■ 多种通讯接口方便用户联机使用
■ 2m/4m测试电缆扩展(选件)
■ 中英文可选操作界面
■ 可通过USB HOST 自动升级仪器工作程序

高低频介电常数测试仪

简要介绍

广泛的测量对象

无源元件：电容器、电感器、磁芯、电阻器、压电器件、变压器、芯片组件和网络元件等的阻抗参数评估和性能分析。

半导体元件：变容二极管的C-VDC特性；晶体管或集成电路的寄生参数分析

其它元件：印制电路板、继电器、开关、电缆、电池等的阻抗评估

介质材料：塑料、陶瓷和其它材料的介电常数和损耗角评估

磁性材料：铁氧体、非晶体和其它磁性材料的导磁率和损耗角评估

半导体材料：半导体材料的介电常数、导电率和C-V特性

液晶材料：液晶单元的介电常数、弹性常数等C-V特性

技术参数

测试参数	C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR
测试频率		20 Hz～2MHz,10mHz步进
测试信号电	f≤1MHz	10mV～5V,±（10%+10mV）
平	f>1MHz	10mV～1V,±（20%+10mV)
输出阻抗	10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω
基本准确度	0.1%
	L	0.0001 uH ～ 9.9999kH
	C	0.0001 pF ～ 9.9999F
	R,X,Z,DCR	0.0001 Ω ～ 99.999 MΩ
显示范围	Y, B, G	0.0001 nS ～ 99.999 S
	D	0.0001 ～ 9.9999
	Q	0.0001 ～ 99999
	θ	-179.99°～ 179.99°
测量速度	快速: 200次/s（f﹥30kHz） ,100次/s（f﹥1kHz）中速: 25次/s, 慢速: 5次/s
校准功能	开路 / 短路点频、扫频清零，负载校准
等效方式	串联方式, 并联方式
量程方式	自动, 保持
显示方式	直读, Δ, Δ%
触发方式	内部, 手动, 外部, 总线
内部直流偏	电压模式	-5V ～ +5V, ±(10%+10mV), 1mV步进
置源	电流模式（内阻为50Ω）	-100mA ～ +100mA, ±(10%+0.2mA),20uA步进
比较器功能	10档分选及计数功能
显示器	320×240点阵图形LCD显示
存储器	可保存20组仪器设定值
	USB DEVICE( USBTMC and USBCDC support)
	USB HOST(FAT16 and FAT32 support)
接口	LAN(LXI class C support)
	RS232C
	HANDLER
	GPIB（选件）

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