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• 使用 4200A加快半导体设备、材料和工艺开发的探索、可靠性和故障分析 研究。 .高性能参数分析仪,提供同步电流-电压 (I-V)、电容-电压 (C-V) 和超快脉冲 I-V 测量。
• 内置测量视频采用英语、中文、日语和韩语
• 使用数百个用户可修改应用测试开始您的测试
• 自动实时参数提取、数据绘图、算数函数
• 多通道切换模块自动在 I-V 和 C-V 测量之间切换无需重新布线即可将 C-V 测量移动到任何设备终端
• 用户可配置低电流功能,个性化输出通道名称,查看实时测试状态
• NBTI/PBTI 测试,随机电报噪声,非易失内存设备,稳压器应用测试
型号 | 说明 |
4200A-SCS-PK1 | 210V/100mA,0.1 fA 分辨率,对于两端和三端设备,MOSFET、CMOS 检定套件4200A-SCS-PK1 包括: |
高分辨率 IV 套件 | • 4200A-SCS 参数分析仪 |
• 4200-SMU 模块 | |
• 4200-PA 前置放大器 | |
• 8101-PIV 测试夹具与采样设备 | |
4200A-SCS-PK2 | 210V/100mA,0.1 fA 分辨率,1kHz - 10MHz,对于高 K 电解质,深亚微米 CMOS 检定套件4200A-SCS-PK2 |
高分辨率 IV 和 CV 套件 | 包括: |
• 4200A-SCS 参数分析仪 | |
• 4200-SMU 模块 | |
• 4200-PA 前置放大器 | |
• 4210-CVU 电容-电压模块 | |
• 8101-PIV 测试夹具与采样设备 | |
4200A-SCS-PK3 | 210V/1A,0.1 fA 分辨率,1kHz - 10MHz,对于功率设备、高 K 电解质,深亚微米 CMOS 设备检定套件 |
高分辨率和高功率 IV 和 CV 套件 | 4200A-SCS-PK3 包括: |
• 4200A-SCS 参数分析仪 | |
• 4200-SMU 模块 | |
• 4210-SMU | |
• 4200-PA 前置放大器 | |
• 4210-CVU 电容-电压模块 | |
• 8101-PIV 测试夹具与采样设备 | |
4200-BTI-A | 用于使用尖.端 CMOS 技术套件进行复杂的 NBTI 和 PBTI 测量4200-BTI-A 包括: |
超快 NBTI/PBTI 套件 | • 4225-PMU 超快 I-V 模块 |
• 4225-RPM 远程前置放大器/开关模块 | |
• 自动化检定套件 (ACS) 软件 | |
• 超快 BTI 测试项目模块 | |
• 电缆 |
Keithley 4200半导体特性分析系统