DIC是微分干涉（Differential Interference Contrast）的缩写，以下是对DIC观察方式的详细介绍：

一、DIC的成像原理

DIC成像可以分为三段过程理解：产生方向垂直的两束偏振光，两束光通过样品形成相位差变化，Z后将相位差转化成明暗区别。具体过程如下：

产生偏振光：光源通过起偏器产生特定振动方向的偏振光，经过DIC棱镜将偏振光变为两束振幅一致但方向垂直的偏振光。这两束偏振光之间存在极小的裂隙（即两束光照在样本上的位置相距很近，小于显微镜的分辨率，因此不会产生重影现象）与相位差。

相位差变化：两束偏振光经过样本后，由于样本中存在不同厚度和折射率，加大两束偏振光的相位差。

明暗区别：相位差改变的两束偏振光被上DIC棱镜重新汇合，再通过检偏镜形成建设性干涉（变亮）和破坏性干涉（变暗），样品的细节得以呈现，同时在光束裂隙的方向上呈现出三维立体的浮雕效果。

二、DIC显微镜的构成

DIC显微镜的核心配件包括起偏器、检偏器、无应力物镜，以及DIC核心配件（带滑动器DIC棱镜）。特殊配置可能还有de Sénarmont补偿器等配件。

起偏器：将自然光转化成偏振光，放置在光源和聚光镜之间。

检偏器：转化有相位差的偏振光为有明暗差异的成像，放置在DIC棱镜与管镜之前，在物镜之后，通常在物镜转盘。检偏器跟起偏器组成正交偏光配置。

DIC棱镜：由两片沿对角线切开的石英楔子胶结组成的分光器，用于将一束偏振光分解为两束垂直的偏振光，或者反过来将两束偏振光合成一组偏振光。DIC棱镜有滑行器，用于旋转镜片调整方向。透射配置需要一对DIC棱镜，反射配置只需要一个。

DIC物镜：DIC物镜上面会有DIC字样，规格Z低要求是无应力物镜，消色差可以是平场消色差或以上。部分新工艺新材料制造的APO复消色差物镜也是无应力物镜，虽然没有DIC字样，也可以作为DIC物镜使用。在一些DIC显微镜中，DIC物镜要与物镜棱镜搭配使用，不同倍数搭配不同的棱镜，这些物镜棱镜是小型化的DIC棱镜。这些显微镜的物镜转盘每个孔位都有一个插槽用于安装物镜棱镜，而这些DIC物镜上除了“DIC”字样，还有特殊的数字或英文标记，比如“N2”“M”之类，用于指示搭配的物镜棱镜。

三、DIC观察方式的特点

强立体感：DIC成像Z大特点是强立体感，在透明细胞成像中，细胞核、线粒体等大细胞器会有很强的立体感，因此特别适合显微操作，比如基因注入、核移植、转基因等。

丰富细节：DIC成像中聚光镜光阑是全开的，因此可以获得更高的数值孔径，得到的细节比相衬、斜照明更好。

无光学瑕疵：相衬观察会有光晕伪影，斜照明可以找到照明不均匀导致的整个画面明暗渐变，还有较大色散，而调试良好的DIC成像没有光学瑕疵，在透明样品成像中通常会得到纯净、灰白的背景。

四、DIC观察方式的应用

生物学领域：DIC是透明样品成像效果更好的方法，因此在细胞、酵母、线虫、微小生物等透明样品研究中，常作为相衬观察的高级替代方案，通常搭配荧光成像用在论文配图中。

电子质检领域：在液晶面板质检等电子质检领域中，很多材料细节和处理瑕疵都是常规照明方式下难以观察的，而DIC就是非常适合这种需求的观察方式。比如在液晶面板ACF层结构中有导电粒子，其填充情况对面板良率有极大影响，使用DIC照明可以看到导电粒子形成的微小凸起，从而快速评估工艺结果是否符合预期。此外液晶屏喷漆的漆体颗粒、液晶屏细微划痕等瑕疵，也可以使用DIC观察发现。

PCB质检：焊盘的划痕和缺陷、基板的缺陷和异常都可以在DIC观察中清晰发现，而在常规环形灯照明和落设照明中都无法发现这些细节。

此外，DIC观察方式还有一定的限制，例如它不适合塑料培养皿，因为塑料培养皿会破坏偏振光的方向性，从而降低Z终成像的对比度。