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C-Quand在线X射线荧光元素分析仪基于成熟的元素分析技术-EDXRF技术,也即能量色散X射线荧光技术。该技术测量样品中原子产生的特征X射线光谱,更重要的是,这种测量方法在整个测量过程中是连续的,而不是只对起始时间进行瞬间测量。
不间断在线测量提供及时信息,让您可以轻松实现过程控制并优化过程控制。C-Quand是为工业过程控制的特殊需求而设计的,它为针对产品环境的严谨系统提供快捷可靠的化学分析,C-Quand加上特殊应用模块可满足各种工业现场的严格要求。
技术特点:
使用EDXRF技术,C-Quand可测量从硅(原子数14)到铀(原子数92)之间的任何元素,浓度范围从ppm到%,测量的浓度范围和精度根据具体应用而定。
应用领域
XRF法是分析石油产品种总硫含量合适的方法,相比通过流动注射或转化法测二氧化硫和硫化氢得到硫含量的技术方法相比,当检测样品的沸点超过450℃时,不再适合总硫分析,应用行业包括:
C-Quand在线X射线荧光元素分析仪技术参数
分析 | |
测量原理 | X射线能量色散技术 辐射源: X射线管,可定制特殊应用探头 |
元素范围 | 硅(Si) 到铀(U) (原子序数从14 到 92) |
测量范围 | 浓度等级从 0.5 ppm 到% 等级 (特殊应用) |
元素种类 | 每台仪器多可测量15种元素 |
精度 | 取决于具体应用,从 ppm 到 % 等级 稳 定性:通常优于 0.5%(漂移自动修正) |
标样校准 | 在测量范围内使用标准的校正方法。简单的实验室样品校正和实验室采集 选项。为了得到更高的灵敏度,在测量轻元素 (Si, P, S, K, Ca, Cl)的时候, 建 议使用氮气(N2)进行吹扫。 |
中央处理和控制单元 | |
工业计算机 | Windows嵌入式操作系统。 15” TFT LCD 液晶彩屏。完整的ASCII 键盘 。 多个屏幕(可选) |
模拟输出 | 独立的4–20 mA模拟输出 |
通讯 | RS485 或 TCP/IP 的网络通讯协议(MODBUS) |
环境温度 | 5-40°C |
测量头 | |
X射线探头 | 硅漂移探测器,分辨率135eV,低噪声 |
高压电源 | 0-50kV |
测量源 | 15W X光射线管,银制电极 |
采样窗口 | Be铍 |
稳定性 | 自动偏移校正,自动反向散射峰校正,自动环境压力校正 |
现场使用条件要求 | |
电源 | 110-230VAC, 50/60 Hz |
功耗 | 100VA (高温测量池150VA) |
仪表风 | 对于Exp型版本以及标配气动阀(可选电动阀)需要<2L/min的仪表风 |
样品分析要求 | |
样品流速 | 0.2-0.5 L/min |
样品池温度 | 大可达80°C |
样品池压力 | 标准大气压 |
粘度 | <100 cSt (采样室温度为80°C) |
污染物 | >10微米需滤除,消除自由水 |