这个视频介绍了CPS纳米粒度分析仪在低密度样品下的分析过程。差速沉淀法过去一般用于测量密度大于分散介质液体密度大于分散介质液体密度的颗粒，CPS开发了一项新的Patent技术（US Patent5786898）.很多常规的差速沉淀法很难或者不可能分析的材料（例如油乳液、蜡乳液、粘性乳液或脂质体），现在可以方便的使用CPS进行分析，而且精度很高。

CPS系统使用已知的标定颗粒进行标定，与美国国家标准和技术研究院(NIST)相兼容的标准保证了分析结果的一致性。使用内标法，也即把已知标定颗粒与待分析样品相混合，所得的峰值结果可以达到±0.25%的精度。

CPS开发了一种特殊的圆盘设计使得在分析过程中可以调节圆盘的转速，而不会对沉降液体产生扰动，转速可以在20 倍范围内升高或者降低，这样一来就使得分析的动态范围几乎增大了20倍。一般离心式分析仪的动态范围为40，但是 CPS系统的动态范围可以超过1000。过去很多需要消耗整夜时间而且低精度的测量，现在可以使用示差沉降法快速测量，而得到高精度的结果。

CPS纳米粒度分析仪的光学系统和电路经过精心设计以降低信号中的噪声，信噪比通常为50000左右，低噪声使得系统具有很高的灵敏度，可检测窄峰的重量通常小于0.01微克，这使得对于微克样品的常规高精度分析变得可行。