业纳轮廓度仪JENOPTIK

 W800/W900 粗糙度轮廓测量系统采用统一的系统设计方案和极为*的探测系统，能以高度灵活性应对日常测量工作。两个测量平台均为模块化设计，之后可根据需求轻松扩展配置。
工业生产过程中对测量精度的要求迥然各异，您可以根据具体的测量要求选择 W800/W900 系统进行测量。
W 系列测量系统操作简便，并且配有 Evovis 测量和评估软件，可提供不同国家标准的分析方法。
W800 测量系统尤其适合于手动或者自动测量，能应对变化多端的工件和测量任务。 
W900 测量系统主要用于定制化的自动化测量，能够非常快速完成测量任务。 


更加迅速
– W800: 驱动箱定位速度 20 mm/s，
             能快速获取准确的结果
– W900: 驱动箱速度 200 mm/s，立柱定位重复精度
             <10 µm，能在极短时间内得到准确的结果
更加灵活
– W800: 传感器选择性大，可应对各种测量任务
– W900: 驱动箱带有两个传感器接口，应用更加灵活

 Waveline W800 亮点
 

• 友好的测量评价界面
• 超高分辨率的粗糙度轮廓传感器
• 机械系统稳定，测量可靠性高
• 成熟并精致的测臂与测针技术
• 所有测臂与传感器均为磁性连接
• 测针自动调零功能，使测针以好的方
• 式接近被测工件表面

可以实现快速更换的适配器，能够快速更换传感器
– 十分灵活
– 更换传感器时间极短
– 传感器定位准确
– 系统自动识别传感器类型

所有测针均配有磁吸功能
– 可快速更换测针
– 碰撞保护
– 能应对变化多端的测量任务，经济实惠

所有轮廓测针均配有 RFID 自动识别芯片
– 软件自动创建测针信息
– 便于测针更换与校准

测量位置的可达性高
–传感器通过驱动箱实现进给运动，因此测针始
–终位于驱动箱前面，从而保证测针可以轻松到
–达工件的被测量位置。

用于灵活操作的控制盒
– 可直接控制测量动作和测针姿态
– 速度调整旋钮，可直接设定驱动箱和立柱移动速度
– 急停功能，可在停止的轴位置处重新启动业纳轮廓度仪JENOPTIK