名称：田间作物表型分析测量仪

型号：PhenoGA-F

【品牌】杭州万深

【产品用途】

PhenoGA-F田间作物表型分析测量仪来做可视化的精确数据分析和表型测试，如测试对压力和环境因素的表型反应、生态毒理学测试或萌发测定、遗传育种研究、突变株筛选、植物形态建模、生长研究等。

【表型数据】

可获得植物在不同生长阶段的表型数据有：投影叶面积及其差异值、投影叶片长和卷曲度、叶片数、叶冠层的构型数据、精准的茎叶夹角，叶冠层随时间改变的相对生长速率、叶色平均值及其对表征的贡献评估等。可用其所配的自动测高仪来自动测量和记录作物的植株高。

【分析特性】

1）常规分析：分析投影外接圆直径及面积，外周长，拟合椭圆主副轴及偏角，凸包内径、面积及周长，植株高（由便携式植株自动测高仪实现）、宽，最小外接矩形长、宽，植株紧实度。

2）顶视的表型分析：叶冠直径、叶冠层面积、叶冠层占空比、叶片分布紧密度等，叶片数，叶片投影面积及其动态变化，叶片颜色，果实外观品质、花形和花色等。

3）颜色分析：RGB、LAB颜色值，具有叶片颜色自动矫正分析特性（可按英国Huang家园林协会RHS比色卡2015版来自动比色）。

4）生长分析：作物叶冠Jue对生长、相对生长曲线，相对生长趋势。

5）批量化精准测量茎叶夹角或分支角。