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MarSurf CD 140轮廓测量仪介绍
新的测针系统结合了坚固性和稳ding性。可变的测量力甚至允许您使用MarSurf CD测量从Rz 2μm起的粗糙度。较低的工件高度和集成的TY调节也可确保稳定的测量起点。因此，即使在接近生产环境时使用，MarSurf CD系列测量站也可提供可靠而准确的结果。0.75µm的低接触误差允许小的生产公差。
创新的技术：
快速测轴
高度灵活的智能测头系统
可选：可以扩展粗糙度评定
创新的工件固定系统
MarSurf CD 140轮廓测量仪技术参数
| 型号 | MarSurf CD 140 |
| 测杆长度 | 210 mm; 350 mm; 490 mm |
| 测量速度 | 0.02 - 10 mm/s |
| 扫描长度末尾（X 方向） | 140 mm |
| 分辨率 | 6 nm（210 mm 测杆） |
| 扫描长度开始（X 方向） | 0.1 mm |
| 导块偏差 | 0.35 µm / 60 mm |
| 定位速度 | 0.02 - 200 mm/s (X) |
| 测量范围 mm | 70 mm（Z 方向，350 mm 测杆） |
| 测量力 (N) | Z+ 和 Z- 方向 4 mN 至 30 mN，可通过软件调整 |
应用领域：
机械工程
轴承，螺纹，螺纹杆，滚珠轴杆，轴，架
接近生产区域的测量
半自动轮廓测量
汽车行业
转向，制动系统，变速箱，曲轴，凸轮轴，气缸头
可选：
常规软件选项：
版本：
MarSurf CD 140 BG 11：
140 mm X-轴
350 mm Z-轴
无 X 轴角度调整
MarSurf CD 140 BG 12：
140 mm X-轴
350 mm Z-轴
有 X 轴角度调整
MarSurf CD 140 BG 21：
140 mm X-轴
600 mm Z-轴
无 X 轴角度调整
MarSurf CD 140 BG 22：
140 mm X-轴
600 mm Z-轴
有 X 轴角度调整
