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澳谱特科技参加中国颗粒学会第十一届学术年会

时间:2021-05-21      阅读:2743

       2020年10月24日,中国颗粒学会第十一届学术年会暨海峡两岸颗粒技术研讨会在厦门市盛大开幕。本届会议由中国颗粒学会、大同大学(台北)、台北科技大学共同主办,中国颗粒学会生物颗粒专业委员会、集美大学、省部共建煤炭高效利用与绿色化工国家重点实验室、青岛科技大学、中国计量大学协办。本次会议围绕颗粒的测试与表征,颗粒制备、处理与应用,疫情后的气溶胶科学发展与未来趋势等主题,设置了16个学术分会场,虽然目前疫情还没有解除,但参会人数超过1500人。

 

大会现场

        颗粒学相关专家学者、企业代表带来一场高水平学术盛宴,彰显着中国颗粒学的蓬勃发展。除了学术交流,本次年会还同期举办颗粒/粉体技术、设备和仪器展,展览内容包括:测试分析仪器,颗粒/粉体制备技术及设备、颗粒/粉体材料及产品、颗粒/粉体应用等。

       澳谱特科技携带新推出的纳米粒度及Zeta电位分析仪和动态图像粒度粒形分析仪参加了此次年会。纳米粒度及Zeta电位分析仪使用动态光散射技术测量纳米颗粒粒度,使用电泳光散射技术测量电泳迁移率和Zeta电位,是测量纳米颗粒粒度和Zeta电位的不错选择。动态图像粒度粒形分析仪可以迅速采集数万个颗粒的图像,利用先进的数字图像处理算法提取颗粒的特征参数,快速获得颗粒的粒度及粒形信息,以便深入了解产品或工艺状态。展会期间,澳谱特科技的两款仪器受到了业内人士的*。
       本届颗粒学大会讨论的内容广泛且具有深远的现实意义,激励我们持续不断改进产品性能,满足广大用户的需求。

展会现场

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