图像粒度粒形分析仪

MorphoVIEW 系列图像粒度粒形分析仪用于测量颗粒粒度与粒形参数。颗粒粒度粒形是反应颗粒特性的基本指标，它决定了颗粒的物理、化学、力学等特性。为了控制产品的质量，生产过程中需要对颗粒粒度粒形参数进行检测。目前常用的颗粒测量方法，大多数只能测量颗粒粒径，而图像分析法所见即所得，既能测量颗粒粒度，又能测量颗粒粒形。 参考价面议

纳米粒度及Zeta电位分析仪

Zetatronix 系列纳米粒度及Zeta电位分析仪用于测量颗粒粒度与Zeta电位。纳米颗粒由于粒径十分细小，其表面的晶体结构发生变化，从而在电学、光学和化学活性等方面表现出的性能。粒径大小是表征纳米材料性能的重要参数，准确了解颗粒粒度是控制纳米材料性能的关键。Zeta电位是表征胶体分散系稳定性的关键参数，Zeta电位越高，胶体系统就越稳定，反之，Zeta电位越 参考价面议

MorphoVIEW S380静态图像粒度粒形分析仪

MorphoVIEWS380静态图像粒度粒形分析仪基于显微镜结构，通过自动样品台带动颗粒在平面内移动，使用高分辨率相机逐张进行拍照，在图像采集过程中颗粒保持静止，确保获得高清晰的图像。通过USB3.0高速数据接口将图像传输至计算机，再通过控制软件对颗粒图像进行分析处理，自动生成粒度粒形参数，并以图表的方式展示测量结果。 参考价面议

MorphoVIEW D380动态图像粒度粒形分析仪

MorphoVIEW系列动态图像粒度粒形分析仪，在运动过程中捕捉颗粒的图像，具有采样量大，无取向误差等特点。利用高分辨率工业相机，颗粒图像更清晰，测量结果更准确，使用数字图像分析方法，不仅给出颗粒的粒度参数，还给出颗粒的粒形参数，用于指导工业生产。 参考价面议

919ZZeta电位分析仪

9x9系列纳米粒度及Zeta电位分析仪以高速数字相关器为核心器件，使用动态光散射技术测量颗粒粒度，使用相位分析光散射技术测量Zeta电位，使用静态光散射技术测量分子量，测量结果准确可靠，是测量纳米颗粒粒度和Zeta电位的信赖之选。 参考价面议

919S纳米粒度分析仪

9x9系列纳米粒度及Zeta电位分析仪以高速数字相关器为核心器件，使用动态光散射技术测量颗粒粒度，使用相位分析光散射技术测量Zeta电位，使用静态光散射技术测量分子量，测量结果准确可靠，是测量纳米颗粒粒度和Zeta电位的信赖之选。 参考价面议

919SZ纳米粒度及Zeta电位分析仪

9x9系列纳米粒度及Zeta电位分析仪以高速数字相关器为核心器件，使用动态光散射技术测量颗粒粒度，使用相位分析光散射技术测量Zeta电位，使用静态光散射技术测量分子量，测量结果准确可靠，是测量纳米颗粒粒度和Zeta电位的信赖之选 参考价面议

929S纳米粒度分析仪

9x9系列纳米粒度及Zeta电位分析仪以高速数字相关器为核心器件，使用动态光散射技术测量颗粒粒度，使用相位分析光散射技术测量Zeta电位，使用静态光散射技术测量分子量，测量结果准确可靠，是测量纳米颗粒粒度和Zeta电位的信赖之选。 参考价面议

929SZ纳米粒度及Zeta电位分析仪

9x9系列纳米粒度及Zeta电位分析仪以高速数字相关器为核心器件，使用动态光散射技术测量颗粒粒度，使用相位分析光散射技术测量Zeta电位，使用静态光散射技术测量分子量，测量结果准确可靠，是测量纳米颗粒粒度和Zeta电位的信赖之选。 参考价面议

939SZ纳米粒度及Zeta电位分析仪

9x9系列纳米粒度及Zeta电位分析仪以高速数字相关器为核心器件，使用动态光散射技术测量颗粒粒度，使用相位分析光散射技术测量Zeta电位，使用静态光散射技术测量分子量，测量结果准确可靠，是测量纳米颗粒粒度和Zeta电位的信赖之选。 参考价面议