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纳米粒度及Zeta电位分析仪用于测量颗粒粒度与Zeta电位。纳米颗粒由于粒径十分细小，其表面的晶体结构发生变化，从而在电学、光学和化学活性等方面表现出的性能。粒径大小是表征纳米材料性能的重要参数，准确了解颗粒粒度是控制纳米材料性能的关键。Zeta电位是表征胶体分散系稳定性的关键参数，Zeta电位越高，胶体系统就越稳定，反之，Zeta电位越低，胶体系统稳定性就越差，因此通过测量和调整体系的Zeta电位，就可以控制胶体的稳定性。因此，广泛应用于产品开发、生产、质量控制以及科学研究，以便深入了解产品特性。
| 技术类型 |
Zetatronix 939系列 查看详情 采用多角度动态光散射技术，提供更高分辨率的粒度测量结果 |
采用背向动态光散射技术，可以测量高浓度样品的粒度 |
采用经典动态光散射技术测量粒度 |
| 经典动态光散射（DLS） | √ | √ | |
| 背向动态光散射（BSDLS） | √ | √ | |
| 多角度动态光散射（MADLS） | √ | ||
| 测量角度 | 11°、90°、175° | 11°、175° | 11°、90° |
| 测量类型 | |||
| 粒度 | √ | √ | √ |
| Zeta电位 | √ | √ | √ |
| 分子量 | √ | √ | |
| 温度/时间趋势 | √ | √ | √ |
