方块电阻测试仪XNC-T21

方块电阻测试仪是一种依照类似的国家标准和美国A.S.T.M标准，专门测量半导体薄层电阻（表面电阻）的新型仪器，可用于测量一般半导体材料、导电薄膜（ITO透明氧化膜），金属薄膜……等同类物质的薄层电阻。

该仪器以大规模集成电路为主要核心；用基准电源和运算放大器组成高精度稳流源；带回路有效正常指示电路；并配以大型LCD显示读数，使仪器具有体积小、重量轻、外形美、易操作、测量速度快、精度高的特点。

◆ 特点：

1       采用大规模集成电路作为仪器的主要部分，测量准确稳定，低功耗；

2       以大屏幕LCD显示读数，直观清晰；

3       采用单个电池供电，带电池欠压指示；

4       体积≤175mm X90mm X42mm，重量≤300g；

5       特制之手握式探笔，球形探针、镀金探针有效接触被测材料及保护薄膜

6       探头带抗静电模块

电阻测试仪技术指标：

测量范围         按方块电阻量值大小分为二个量程档：

  1.方块电阻 1.00～199.99Ω/□；

  2.方块电阻 10.0～1999.9Ω/□；

恒流源     测量过程误差：≤±0.8%

模数转换器     量程：0～199.99mv；

 分辨率：10μv；

 方式：LCD大屏幕显示；极性，超量程均自动显示；小数点同步显示；

测量不确定度         在整个量程范围内，测量不确定度≤5%

四探针探头规格     间距：1mm、1.59mm、3.8mm；偏差≤2%；游移率≤0.3%；绝缘电阻≥500MΩ

电源         9V叠层电池1节