镀层测厚仪FT160

微束XRF涂层厚度和材料分析仪，方便快速进行质量控制和验证测试，在几秒内即可获得准确的数据。

基于X-光荧光的涂层厚度和材料分析是业内广泛接受认可的分析方法，提供易于使用、快速和无损的分析，几乎不需要样本制备，能够分析元素周期表上从13Al 到92U 的固体或液体样品。

镀层测厚仪FT160
参数：

高分辨率 SDD

元素范围： 铝 - 铀

样品舱设计：开闭式

XY 轴样品台选择：自动台、晶片样品台

最大样品尺寸：600 x 600 x 20 毫米

滤光片：1 或 3

毛细管聚焦光斑尺寸< 20µm

XRF控制器软件

深圳市矢量科学仪器有限公司秉承“合作共赢，助力科研，促进工业”的理念，信守“产品第一”的承诺，提供顶尖分离/分光分析、元素/物性检测分析、表面检测分析及生化检测分析仪器，服务于科研、教育、医院、药业、石油、环保及生命科学等领域，公司以深圳为核心，在成都、武汉等地设有分公司，业务范围辐射各地，涵盖各科研院所、大学、医院、生物制药单位，食品化工、检验检测、环保行业以及加工制造业等。

本公司与日本HITACHI、美国Agilent、美国Thermo Fisher、德国Eppendorf等建立战略合作关系，以华南区为核心，辐射各地进行品牌推广，产品销售、售后服务，与清华大学、北京大学、武汉大学等全国名校建立了良好的合作关系。不断优化公司架构模式，提高服务质量及效率，致力于推动前沿技术和产品的应用，打造成为国内较优的仪器、装备服务商以及制造商。