LRT-X XRD冷热台特点：

结构紧凑，适用于多种材料的变温XRD测试

Z大温度范围 -190 ℃ 到 600 ℃ （可选型）

气密腔室设计（通保护气氛），可升级真空腔室（10-2mBar）

衍射角0~164°（标准样品支架）

样品台23 x 23mm，银质

上位机软件控制

支持改动或定制

温控特性：

1. 温度范围：

下限温度（选型）：A. -100  B. -120  C. -150  D. -190

上限温度（选型）：A. 100  B. 200  C. 400  D. 600

2. 控温速度：0~10℃/min

3. 温度分辨率：0.1℃

4. 温度稳定性：±0.1℃（室温以上，±0.05℃）

5. 温度控制：高精度PID控制

6. 载样台材质：银质

7. 温度传感器：PT100

结构特性：

1. 样品台面尺寸：23x23mm（以实际尺寸为准）

2. 气氛控制：默认气密腔室，充入保护气氛

*可升级为真空腔室，10-3mBar

3. 外壳冷却：通循环水，防止外壳过热

配置清单：

基本配置：

LRT-X XRD冷热台 x1   GD-001高低温控制器 x1   液氮罐 x1   温控软件 x1

选配：

电脑主机/安装支架/真空系统/循环水系统/湿度控制系统/定制控制软件