CTS-8072PR+双通道脉冲发生接收仪

CTS-8072PR+双通道脉冲发生接收仪是应用于高频检测研究的专用仪器，具备低噪声和宽频带的接收放大电路，以及由高性能尖脉冲发生器及高压电源组成的尖波发射电路；提供双通道数据采集功能，并可实现计算机同步控制。

产品介绍

CTS-8072PR+脉冲发生接收仪是应用于高频检测研究的专用仪器，具备低噪声和宽频带的接收放大电路，以及由高性能尖脉冲发生器及高压电源组成的尖波发射电路；提供双通道数据采集功能，并可实现计算机同步控制。

功能特点

高精度测量：可以对物体的尺寸、形状和位置进行精确测量。比如在工业无损检测中，能够准确检测出零部件的微小缺陷。

窄波束：波束较窄，有助于提高检测的方向性和定位精度。

特殊设计匹配高频探头的尖脉冲发生器，上升时间＜3ns，-110V～-320V可调。

脉冲重复频率可调，最高20kHz。

信号带宽：20KHz～110MHz（-3dB）。

-6dB～+54dB，1dB步进的RF可调增益范围。

20kHz或20MHz可选高通滤波器。

500MHz采样率/12bit数据采集模块。

标准网络接口，实现计算机同步控制及数据采集。

提供本公司自主研发的30MHz、50MHz等系列高频探头。

性能指标

应用领域

应用领域：

电子专业：检测集成电路芯片、印刷电路板的缺陷。超声扫描显微镜SAM、高频C扫等。

材料研究：评估微小材料的结构完整性，如复合材料中的微小裂纹。可应用于测量材料的声学特性，如声速、衰减等，包括材料晶粒度的评估等。

精密机械：检测精密零部件的表面和内部缺陷。

探头测试：可应用于高频超声波探头的声学特性的评价以及性能指标的测试。

声学专业：探究高频超声在不同介质中的传播特性。

应用案例：

 厚度测量

采用CTS-8072PR+高频脉冲发射接收仪，配合我司自主研发的50MHz高频探头，可实现最薄0.08mm塞尺的厚度测量，测量结果准确，波形清晰，波形仅1个周期。