360°实时调整功能允许同时垂直和水平调整您的机器，XT770 轴对中工具可以执行各种类型的几何测量，包括直线度、平面度测量、正方形、平行测量等，为您提供一体式完整的激光器测量系统！

高配置激光对中仪EASY-LASER XT770功能：

1、时钟法对中（在水平和垂直位置采集数据，计算对中结果）
2、三点法对中（从任意点开始，按照机器正常转动方向旋转，并可于任意点结束测量）
3、连续扫描法对中（在一定角度范围内，连续扫描并采集大量数据点，构建zhui优对中椭圆，提高测量的重复性和准确度，通过仪器内置的计算方法，得出对中数据）
4、经过测量法对中（在无法将原动机与被驱动机进行连接，同步盘车作业的情况下，仪器可以自动记录非同步盘车时，两个传感器在相同角度时的坐标值）
5、任意位置调整：传感器处于360°的任意位置时，无需转动机器便可同时观察水平和垂直测量结果
6、实时监测功能：仪器可以实时监测运转机器的垂直和水平方向的位移变化趋势
7、尺寸修改：测量过程中可随时更改机器尺寸值，以得到不同的测量结果
8、热膨胀补偿：对有热膨胀的设备，要求仪器可以进行对中热膨胀补偿
9、万向轴对中：针对万向轴联接的设备，仪器也可以进行对中计算
10、百分表测量模式：仪器可以将对中结果以百分表的形式显示出来
11、软脚测试、诊断和调整
12、固定地脚：在激光对中仪内任意zhi定某几个地脚为固定地脚后，操作者能自动得到其它地脚的调整量
13、机组对中：可实现至少3台机器的机组对中。通过对机组对中情况的一览，使操作者可得知机组全局对中状况，配合使用固定地脚功能和在线跟踪调整功能，可以优化机器地脚的调整量，从而得到合理的调整值。
14、对中测量结果以图形化的方式显示，使测量者对机器状态一目了然
15、可扩展性：仪器在未来可以通过内部固件的升级和配合其他特殊支架，能完成诸如孔系对中、平面度测量、直线度测量等功能，wan全涵盖激光对中的所有应用场合。
16、数据恢复功能：仪器可在测量过程中发生意外的情况下将结果自动保存，避免数据丢失。

             1.输入尺寸                                      2.测量（有五种方法可供选择，详情如右所示）

   3.在“原始数据”中查看结果       4.调整                 5. 查看报告内容

更多托展功能

立式/法兰安装机器                                        机器底座的扭曲度测量 测量平面度/扭曲度的程序，例如， 机器基础，机器工作台等。

机组找正 您可以手动 选择参考机器，或者让程序选择一个可以 最大限度减少调整需求的机器。  平面度测量：检查基础 和框架的平整度，每排 2 到 8 个点。

直线度：测量长轴、轧辊、轴承轴颈、底座、 高架轨道、机器结构等。       功 能和千分表的功能相当，用于检查轴承 松动和载荷。

您将能够得到 水平和垂直对中的结果，结果以图形和 数字的方式显示。

A.PSD测量窗口

B.激光发射孔

C.激光角度调节

D.OLED显示：电池状态/装置角度

E.链条收紧旋钮 点阵式激光技术 与线激光系统相比，点激光技术使其能 够测量大型设备（需要重力盘车或高空盘 车的设备）和长轴距的设备。联轴器中存 在齿隙时，它还能提供更高的精准度。此 外，利用点激光，还可以在安装机器时进行更多的 检查，如检查基础的扭曲度和轴承间隙。通过2轴 PSD，您可以读出并记录垂直和水平方向的数值。 双激光器、PSD、倾角仪 两个测量单元都有电子倾角仪，更能精准、快速的 完成激光对中仪的初步调整。双激光束和双PSD 的反向测量方法，使得它也可以测量未正确设置 的机器。非常适用于新设备的安装，与其他方法相 比，双重技术在距离增加时也能保持测量的准确性。 多种支架

F.充电接口

G.可伸缩的不锈钢安装杆

H.锁定旋钮

I. 可滑动的目标/防尘罩

A.偏移支架，2件

B. 磁性支架*

C. 磁铁底座，2件

D. 滑动支架，部件编号：12-1010*

E. 薄轴支架，宽度12毫米[0.5”]，部件编 号：12-1012*

F. DM支架。用于动态测量。带有2个支架的完整套件，部件编号：12-1130*

G. 万向节支架套件，部件编号：12-1151*（注意：图片上未显示所有部件。）

360° 旋转的激光头。数字式精确水平仪确保了精确度，不会受到用户个人解读或可能的环境照明 恶劣条件的影响。连接到XT对中应用后，您可以参 照屏幕上的指导对电子水平仪进行校准。这使得对 平面度测量经验不足的用户也能轻松操作。当然， 您也可以用物体作为参照物进行测量，而不必使用 水平仪。直线度和平面度程序也会指导您，为您进 行复杂的最佳匹配计算。事实上，通过数值程序，您 几乎可以进行任何种类的几何测量