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INT05-N 迈克尔逊 PLX 单片干涉仪 (NIR FTIR 光谱仪的主要光学组件)
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FS70-TH 用于半导体检测显微镜 (1X管镜头 可调光通比 C-mount接口)（观察仪）
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CUBE-ER100偏振消光比测试仪
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FS70Z-TH 用于半导体检测显微镜 (1x-2x管镜头 C-mount) （观察仪）
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BladeCam2-HR-UV CMOS基础型光斑分析仪相机 190-1150nm
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Atik VS系列 CCD高分辨率长曝光工业相机 (1460 x 1932)
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FS70L4 用于半导体检测显微镜（显微OCT扫频测振）
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FS70Z 用于半导体检测显微镜 (1x-2x管镜头 固定光通比50/50 C-mount) （观察
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FS70L4-TH 用于半导体检测显微镜 (1x管镜头 C-mount带开关) (观察镜)
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可调焦小光斑光纤准直器
￥9999
Cobra-S 800 超高速光谱仪
￥19999
带尾纤的Fabry-Perot标准具 C波段 A型 FSR50GHz
面议BladeCam2-XHR-UV CMOS基础型光斑分析仪相机 190-1150 nm
½" CMOS 光束分析照相机，超高速USB 3.0，支持190-1605nm，通用型和高像素型可选，采用标准的无边缘式无窗探测器结构，采用电子快门，最短曝光时间可达40 µs。BladeCam2-HR系列配备功能齐全且可定制的软件，软件可免费更新，许可证无需付费，并提供无限制的软件安装。
355 nm 至 1150 nm，标准 CMOS 检测器
1.3M 像素，1280 x 1024 像元，6.6 x 5.3 mm 有效区域
像元尺寸 5.2 µm x 5.2 µm
HyperCal™ – 动态噪声和基线校正软件
USB 3.0供电；灵活的螺钉可锁定3m长的导线
10 位ADC
标准的无边缘式无窗探测器结构
电子自动快门，40 µs 至 500 ms
信噪比1,000:1 SNR (30/60 dB 光学/电子)
可现场更换的图像传感器
M² 测量选项——光束传输分析、发散、聚焦
连续激光的光束分析
激光和激光系统的现场测试
光学组装和仪器校准
光束漂移和记录
使用 M2DU 平台测量 M²
BladeCam2-XHR-UV CMOS基础型光斑分析仪相机 190-1150 nm
