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INT05-N 迈克尔逊 PLX 单片干涉仪 (NIR FTIR 光谱仪的主要光学组件)
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超宽中红外光束质量分析仪(不带M2测试，光敏面：15.3×12.2mm)
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超宽中红外光束质量分析仪(带M2测试，光敏面：10.8×8.7mm)
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BladeCam2-HR CMOS基础型光斑分析仪相机 355-1150nm
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CUBE-ER100偏振消光比测试仪
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BladeCam2-HR-UV CMOS基础型光斑分析仪相机 190-1150nm
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BladeCam2-XHR-ND4 CMOS基础型光斑分析仪相机 355-1150nm
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BladeCam2-XHR CMOS基础型光斑分析仪相机 355-1150nm
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Atik VS系列 CCD高分辨率长曝光工业相机 (1460 x 1932)
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FS70L4 用于半导体检测显微镜（显微OCT扫频测振）
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BladeCam2-XHR-UV CMOS基础型光斑分析仪相机 190-1150 nm
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可调焦小光斑光纤准直器
￥9999FS70Z 用于半导体检测显微镜 (1x-2x管镜头 固定光通比50/50 C-mount) （观察镜）
日本三丰Mitutoyo FS70 半导体检测显微镜,半导体观测显微镜 ,工作距离足够长，倍数高，能够应用在各种检测场合和质量确认方面。搭配Mitutoyo的全系列可见光远场校正镜头，显微镜系统的放大倍率可涵盖20X到8000X，工作距离范围从6到34mm。对焦目镜可安装直径为25mm的测量分划板来测量。50/50三端输出显微镜的粗调范围为50mm，精确调整分辨率可达0.1mm，并可同时进行视频输出和双目观测。
FS70系列半导体检测显微镜单元是一款带目镜观察的小巧显微镜单元。适于检测金属表面、半导体、液晶基板、树脂等。可应用于切割、修整、校正、 给半导体电路做标记/ 薄膜(绝缘膜) 清洁与加工、液晶彩色滤光器的修复(校正错误)。还可用作光学观察剖面图以便探针分析半导体故障。
特点
采用Mitutoyo远场校正镜头
三端输出设计可轻松接收视频
转盘可接最多四个物镜
应用：
切割、修整、校正、 给半导体电路做标记
薄膜(绝缘膜) 清洁与加工、液晶彩色滤光器的修复(校正错误)。
还可用作光学观察剖面图以便探针分析半导体故障。
• 可用于红外光学系统*。
应用：晶体硅的内部观察；红外光谱特征分析。
* 需要红外光源和红外摄像机。
• 支持BF (亮视场)、DF (暗视场)、偏振光及微分干涉对比(DIC) 的型号(产品) 可用。
• 带有孔径光阑的柯勒照明是表面照明光学系统上的标准配件。
• 内倾转塔和超长工作距离的物镜确保了显微镜下的高可操作性。
FS70Z 用于半导体检测显微镜 (1x-2x管镜头 固定光通比50/50 C-mount) （观察镜）
