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Bristol 871B 激光波长计 0.375-2.5um (波长精度0.75ppm)
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Bristol 671A-IR 高精度激光光谱分析仪及波长计 1-5um
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Bristol 671A-NIR 高精度激光光谱分析仪及波长计 520-1700nm
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Bristol 近红外高精度激光波长计 520-1700nm 771B-NIR-FA
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Bristol 近红外高精度激光波长计 520-1700nm 771A-NIR-FA
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Bristol 中红外高精度激光波长计 771A-MIR
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Bristol 中红外高精度激光波长计, 1-12um 771B-MIR
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Bristol红外高精度激光波长计 1-5um 771A-IR
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Bristol 红外高精度激光波长计 1-5um 771B-IR
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SILIOS ANT SWIR 超小型快照多光谱InGaAs相机 1100-1700nm 213 (
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VIS NIR TOUCAN超小型快照式多光谱CMOS工业相机 400-900nm 512 (H)
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覆盖400-1700nm宽带的 VGA VIS-SWIR高灵敏度近红外相机 (IMX991传感器 C
面议FS70L4 用于半导体检测显微镜（显微OCT扫频测振）
日本三丰Mitutoyo FS70 半导体检测显微镜,半导体观测显微镜 ,工作距离足够长，倍数高，能够应用在各种检测场合和质量确认方面。搭配Mitutoyo的全系列可见光远场校正镜头，显微镜系统的放大倍率可涵盖20X到8000X，工作距离范围从6到34mm。对焦目镜可安装直径为25mm的测量分划板来测量。50/50三端输出显微镜的粗调范围为50mm，精确调整分辨率可达0.1mm，并可同时进行视频输出和双目观测。
FS70系列半导体检测显微镜单元是一款带目镜观察的小巧显微镜单元。适于检测金属表面、半导体、液晶基板、树脂等。可应用于切割、修整、校正、 给半导体电路做标记/ 薄膜(绝缘膜) 清洁与加工、液晶彩色滤光器的修复(校正错误)。还可用作光学观察剖面图以便探针分析半导体故障。
特点
采用Mitutoyo远场校正镜头
三端输出设计可轻松接收视频
转盘可接最多四个物镜
应用：
切割、修整、校正、 给半导体电路做标记
薄膜(绝缘膜) 清洁与加工、液晶彩色滤光器的修复(校正错误)。
还可用作光学观察剖面图以便探针分析半导体故障。
• 可用于红外光学系统*。
应用：晶体硅的内部观察；红外光谱特征分析。
* 需要红外光源和红外摄像机。
• 支持BF (亮视场)、DF (暗视场)、偏振光及微分干涉对比(DIC) 的型号(产品) 可用。
• 带有孔径光阑的柯勒照明是表面照明光学系统上的标准配件。
• 内倾转塔和超长工作距离的物镜确保了显微镜下的高可操作性。
FS70L4 用于半导体检测显微镜（显微OCT扫频测振）
