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美国ACZET安捷特ECO CUBE-X系列镀层测厚仪
美国ACZET安捷特ECO CUBE-X系列镀层测厚仪
功能：
1、测量方向：由上向下
2、镀层元素范围：Al铝～U铀
3、电压：50kV（1.2mA）
4、探测器（可选）：正比计数器、Si-Pin、SDD硅漂移
5、单准直器：0.3mmØ、0.5mmØ
6、镀层层数：多至5层
7、测量点尺寸：圆形测量点，直径约0.2毫米-0.8毫米
8、测量时间：30秒-180秒
9、样品仓尺寸：375mm (长)x 350mm (宽) x 255 mm (高)
10、仪器尺寸：605mm (长) x 405mm (宽) x 415 mm (高)
11、同时定量测量8个元素。
12、定性鉴定材料达24个元素。
致力于分析仪器设备研发及生产
研发设计、制造生产、*于一体的企业
天平镀层激光系列设备产品被广泛应用
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