OmniScan X3 64奥林巴斯OLYMPUS相控阵探伤仪

提前确认TFM（全聚焦方式）声波覆盖范围

声学影响图（AIM）工具可以基于您的TFM（全聚焦方式）模式、探头、设置和模拟反射体，即时提供灵敏度的可视化模型。

声学影响图（AIM）工具消除了扫查计划创建过程中的猜测因素，因为屏幕上会显示某个声波组（TFM模式）的效果图，使您看到灵敏度消失的位置，并对扫查计划进行相应的调整。

最多显示4种TFM模式，方便了缺陷的解读和定量

在同一个检测中使用不同的TFM（全聚焦方式）模式（声波组），使您更有希望探测到方向不规则的缺陷指示。OmniScan X3探伤仪可以最多同时显示4种模式的全聚焦方式（TFM）图像，从而使您看到从不同角度生成的图像。来自每种模式的响应和特征，如：端部衍射、圆角凹陷和缺陷剖面，可被综合在一起进行分析，从而可以确认缺陷类型，并提高缺陷定量性能。

使用内置工具简化您的NDT（无损检测）工作流程

1. 扫查计划

执行步骤 1、2、3，在仪器上设置您的检测

2. 校准

使用内置工具进行*合规的校准

3. 采集

在检测过程中查看实时扫查结果

4. 分析

快速而自信地解读您的数据

实时TFM（全聚焦方式）包络处理

简化了缺陷的表征和定量

仪器*的包络处理功能可以生成高分辨率的TFM（全聚焦方式）图像。图中的信号指示干净、清晰，在背景噪声的衬托下，显得更加鲜明突出。最多可显示4种TFM（全聚焦方式）图像，有助于缺陷的解读和定量。

当精确度至关重要时

在更低的频率和更宽的带宽上清晰地观察

1. 与32通道型号相比，64通道型号可在更宽的带宽上为更高和更低的频率提供更高的信噪比（SNR）。

2. OmniScan X3 64探伤仪能够使用更大的脉冲宽度驱动更低的频率，可为复合材料等衰减性较强的材料提供更好的信号分辨率。

3. 在C扫描中，64通道型号的更高分辨率和信噪比能够更精细地显示更多的特征，可使您在需要时获得更高的精确度。

OmniScan X3 64奥林巴斯OLYMPUS相控阵探伤仪技术参数：