探测器

美国Amptek X-55 Si-PIN探测器，整体

l Be窗厚度:1mil

l 晶体面积:25mm 2

l 信号处理系统:DP5

l 最佳分辨率:145eV

高压电源

l 输出电压：0~50kV

l 灯丝电流：0~2mA

l 最大功率：50W

l 8小时稳定性：0.05%

射线管

l 输出电压：0~50kV

l 灯丝电流：0~2mA

l 最大功率：50W

l 靶    材：Mo

l Be窗厚度：0.2mm

l 使用寿命：2万小时

准直器

l 多种滤光片、准直器自动切换

l 光斑大小：Φ0.1mm、Φ0.3mm、Φ0.7mm、Φ1.2mm、Φ2.0mm、Φ5.0mm、Φ7.0mm。可任选4种X射线光斑

样品仓大小

l 样品仓大小可定制！

外形尺寸 ：510mm×380mm×395mm（H）

样品仓尺寸 ：360mm×330mm×80 mm（H）

精密度（EC-681K）

Pb ≤ 5ppm，Hg ≤ 5ppm, Br ≤ 7ppm, Cr ≤ 6ppm, Cd ≤ 5ppm

准确度（EC-681K）

Pb ≤ 7ppm，Hg ≤ 5ppm, Br ≤ 5ppm, Cr ≤ 3ppm, Cd ≤ 4ppm

检出限

对聚合物材料：Pb ≤ 5ppm，Hg ≤ 5ppm, Br ≤ 5ppm, Cr ≤ 5ppm, Cd ≤ 5ppm；

对铜基体材料：Pb ≤ 20ppm

镀层：0.003um-40um

测量时间

15-240 秒（软件可自动调整）

测试元素范围

测试元素范围：S-U中的元素。

ROHS限定有害元素：铅（Pb），汞(Hg)，镉(Cd)，铬(Cr6+)，多溴联苯(PBBS)，多溴二苯醚(PBDE) + 卤素。

玩具指令：铅（Pb），汞(Hg)，镉(Cd)，铬(Cr)，锑（Sb），砷(As)，钡(Ba)，硒(Se).

合金：铜材，铁合金，镍合金，锡合金，钛合金，贵金属等。

镀层：Ag/Sn/Au/Ni-Cu, Cr/Zn/Ni/Ag-Fe。

检测范围

1ppm-99.99%

测试样品类型

固体、粉末和液体

CCD观察

500万像素高清CCD

输入电源

AC220V～240V，50/60Hz

工作环境温度

温度15-35℃

工作环境相对湿度

≤85%（不结露）

重量

约35Kg