MST-原位多场耦合样品杆_多场耦合样品杆-安徽泽攸科技有限公司手机版

详细介绍

    PicoFemto系列透射电子显微镜原位多场耦合样品杆是一种革命性的原位透射电子显微镜实验系统，借助该系统，研究人员可以在透射电子显微镜中构建一个可控的多场环境（包括光、电、力、热等），从而对材料或者器件等不同类型样品实现多重激励下的原位表征。

    具备多种耦合方式：力-热、力-电、光-电、光-电-力、光-电-力-热

    技术指标

电学测量	加热控温
1.包含一个电流电压测试单元；	1.温度范围：室温至1000℃；
2.电流测量范围：1nA-30mA；	2.温度准确度：优于5%；
3.电流分辨率：100fA；	3.控温稳定性：优于±0.1℃；
4.电压输出范围：±10V，±150V；	4..软件控制，数据自动保存。
5.软件自动测量：I-V、I-t

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透射电子显微镜内不同温度下的原位充放电研究

In Situ TEM Observations of Discharging/Charging of Solid-State Lithium-Sulfur Batteries at High Temperatures

doi: 10.1002/smll.202001899

力学操纵	光纤指标
1.探针粗细调方式：全软件操控；	1.光纤探针、平头光纤、光纤透镜多种方案可选；
2.粗调范围：XY方向2.5mm，Z方向1.5mm；	2.光纤快拆接口：SMA、FC等；
3.细调范围：XY方向18um，Z方向1.5um；	3.可外接光源；
4.4.细调分辨率：XY方向0.4nm，Z方向0.04nm；	4.可外接光谱仪；

    产品选型

    原位多场耦合样品杆具有单倾、双倾（JEOL）两个版本；

    泽攸科技提供适配Thermofisher/FEI（赛默飞）、JEOL（日本电子）、Hitachi（日立）各型号透射电子显微镜及极靴的不同型号样品杆，支持定制。

    国内部分用户

北京理工大学.jpg 青海大学.jpg 厦门大学.jpg 上海交通大学.png 燕山大学.jpg 浙江大学.png

    典型案例

    1、加热芯片+电学探针-------＞透射电镜内的原位加热电学实验；

    2、加热芯片+力学探针-------＞透射电镜内的原位高温力学实验；

    3、电学芯片+电学探针-------＞透射电镜内的三端器件测量实验；

    4、电学芯片+光纤单元-------＞透射电镜内的电制发光现象研究；

    5、电学芯片+光纤单元-------＞透射电镜内的原位光电现象研究。

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