产品描述

年053410分光测色仪是一款采用第8天(漫射照明，8°方向接收，美国科学院包括镜面反射光）标准测色仪，测试探头与被测样品非接触测试，实现液体、酱料、粉末等非接触式精密测色。

非接触式分光光度计的特点

256像素双阵列金属氧化物半导体图像传感器

更高的光学分辨率保证了仪器的测量速度、精度、稳定性和一致性，掌握了核心技术，实现了与国际标准同平台兼容。

采用全光谱发光二极管光源

全光谱发光二极管光源保证了可见光范围内足够的光谱分布，避免了特定波段发光二极管光谱的缺失，保证了仪器测量结果的准确性和低成本的维护。

凹面光栅光谱技术

采用凹面光栅光谱技术，分辨率更高，测色更准确。更高品质

采用工业级实时处理微控制器支持蓝牙5传输更稳定可靠。

多色测量空间和观察光源

提供CIE LAB、XYZ、Yxy、LCh、CIE LUV、Musell、s-RGB、HunterLab、βxy、DIN Lab99色彩空间，以及D65、A、C、D50、D55、D75、F1、F2（CWF）、F3、F4、F5、F6、F7（DLF）、F8、F9、F10（TPL5）、F11（TL84）、F12（TL83/U30）多种观察光源，可满足不同测量条件下的特殊测量要求。

高效的

一个完整的测量周期仅需200毫秒，每天可测量超过400,000个样本。

技术参数

模型年053410

光学几何第8天(漫射照明，8°方向接收，美国科学院包括镜面反射光）；

符合标准CIE 15号、GB/T 3978、GB 2893、GB/T 18833、ISO7724-1、ASTM E1164、DIN5033 Teil7、GB 2892、GB/T 1883

特征 测试探头与被测样品非接触测试，实现液体、酱料、粉末等非接触式测色，主要用于自动化生产线的测色和质量控制；测量时间0.2-1.5秒可调，软件功能可定制（附加定制功能需评估）。

光源 全光谱发光二极管光源、紫外线光源

分光光度模式 凹面光栅

传感器256像素双阵列金属氧化物半导体图像传感器

波长范围400~700nm，10nm输出

测得的反射率范围 0-200%

测量孔径Φ20mm(可定制Φ10mm）

非接触距离3毫米 (±0.2 毫米)

样品高度 无限厚度，仅使用测试探针

距离调整方法 根据实际样品固定高度

测量模式 软件定制功能（额外的定制功能需要评估）

定位 摄像头定位

色彩空间CIE实验室，XYZ，Yxy，LCh，CIE LUV，Musell，s-RGB，HunterLab，βxy，DIN实验室99

色差公式ΔE*ab、ΔE*94、ΔE*cmc（2:1）、ΔE**cmc（1:1）、ΔE*00、ΔE(亨特），DINΔE99

其他比色指数WI（ASTM E313、CIE/ISO、AATCC、Hunter）

易（ASTM D1925、ASTM 313），

同色异谱指数 惯性矩，

染色牢度、色牢度、强力、遮盖力

观察者角度 2°/10°

光源D65、A、C、D50、D55、D75、F1、F2（CWF）、F3、F4、F5、F6、F7（DLF）、F8、F9、F10（TPL5）、F11（TL84）、F12（TL83/U30）

显示数据 光谱图/值、样本色度值、色差值/图表、颜色模拟、通过/失败结果、显示公差可设置

测量时间 快0.2秒

数据存储 样品模式+质控模式 18,000

连续统计模式30000条，合计不超过48000条

重复性在佳测量模式下（当单个测量时间为1.5秒时）：

光谱反射率：标准偏差的0.1%以内：

色度值：ΔE*ab在0.03范围内（仪器预热和校准后，每隔5s测量白板的平均值30次）

ΔE*ab 0.2范围内的仪器间误差（BCRA系列Ⅱ的12个瓦片的测量平均值）

测量方法单次测量，平均测量（2~99次）

尺寸200*200*160mm（测试探头）

重量约3Kg（仅测试探头）

电源AC 24V，3A电源适配器电源

光源寿命5年，超过300万次测量

显示7英寸TFT彩色LCD，电容式触摸屏

数据端口USB，Bluetooth®5.0

语言简体中文、繁体中文、英语

工作环境0～40℃，0～85%RH(无凝露），海拔高度：小于2000米

储存环境-20～50℃，0～85%相对湿度(无结露）

标准配件 电源适配器、说明书、数据线、标准校准板、黑色校准盒

笔记 此机型特别适用于流线型生产线，深度功能定制会产生额外的定制成本